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申请/专利权人：杭州电子科技大学信息工程学院;杭州电子科技大学

摘要：本发明涉及光谱检测缺陷技术领域，具体为基于高光谱分辨的缺陷检测装置及方法，包括呈水平设置的检测架、安装于检测架中部正上方的光谱成像仪以及光谱成像仪两侧安装的若干发光器，检测架上套设有若干输料带；检测架的左右端且位于每个输料带正上方均悬置有若干储料组，检测架的左右端均设置有用于悬托若干储料组的配料组。本发明通过启动检测架上的输料带，并利用配料组中的传动组传递输料带的输送力而同速率带动储料组降至输料带上，进而被自动拨动输送至中部被光谱成像仪拍摄检测；装有被检测产品再输送到检测架左端自动收纳并人工更换产品，以便在检测架上进行来回检测，其操作便捷且实用安全。

主权项：1.基于高光谱分辨的缺陷检测装置，包括呈水平设置的检测架100、安装于检测架100中部正上方的光谱成像仪110以及光谱成像仪110两侧安装的若干发光器120，其特征在于：所述检测架100上套设有若干输料带130，所述检测架100的右端侧壁安装有用于驱动若干输料带130同步循环运动的伺服电机140；所述检测架100的左右端且位于每个输料带130正上方均悬置有若干储料组200，所述检测架100的左右端均设置有用于悬托若干储料组200的配料组300，两个配料组300呈镜像对称设置，且位于右端的配料组300通过输料带130的输送运动而自动释放储料组200，位于左端的配料组300通过输料带130的输送运动而自动收提储料组200；所述储料组200包括用于储放检测品的储料盒210、用于支托储料盒210的托料盒220以及设置于托料盒220底部的拨盒件230；所述拨盒件230包括转动连接于托料盒220底部的拨板232及其两侧连接的呈折叠状态的弹片233，所述输料带130的外表面上等间距固定连接有若干拨块131，所述拨块131与拨板232接触而带动托料盒220随着输料带130运动而被输送；所述配料组300包括一对呈竖直板结构的配料架310、设置于一对配料架310之间且呈闭合状的若干提盒丝320以及设置于提盒丝320底部与输料带130上方之间的传动组330；一对配料架310顶部之间固定连接有顶杆311，所述顶杆311的底面垂直设有若干吊杆312，所述吊杆312的数量比输料带130的数量少一个，且吊杆312位于相邻两个输料带130之间的正上方；若干所述提盒丝320嵌设于两个配料架310的内侧面和若干吊杆312的左右两侧面上，所述配料架310和吊杆312的下端处且远离提盒丝320的前侧面开设有卡口3121，所述配料架310的内侧面和吊杆312的两侧面开设有与卡口3121相连通的滑槽3122，所述滑槽3122一直延伸至顶杆311底面处，所述提盒丝320的一竖边经过滑槽3122内，所述托料盒220的左右两侧顶部设有与提盒丝320挂接的卡丝件221；所述传动组330包括与配料架310和吊杆312下端处侧面插接的驱动辊331、与输料带130滚动连接的传动轮332以及用于套接驱动辊331和传动轮332中心轴的传动带333，所述驱动辊331与提盒丝320的底部接触而滚动连接。

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