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一种不混溶液体界面电荷密度原位测量方法、装置和系统 

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申请/专利权人:清华大学

摘要:一种不混溶液体界面电荷密度原位测量方法、装置和系统,所述方法包括:获取微流动芯片中并行流道的多组数据,包括并行流道两端的第一液体压降和第一液体电势降,并行流道内并排流动有互相不混溶的第一液体和第二液体,以第一液体压降为横坐标,以第一液体电势降为纵坐标进行曲线拟合,获得斜率α,根据公式获得液液界面的电荷密度,液液界面为第一液体和第二液体之间的界面;Qs‑l,eff代表第一液体与所述并行流道的内壁面材料之间的等效固液界面电荷密度,第一液体电势降由位于并行流道内的电极对第一液体进行原位测量而获得,简化了对测量装置的要求,提高了不混溶液体界面电荷密度测量的准确性,适用于各种数值范围的电荷密度测量,易于推广应用。

主权项:1.一种不混溶液体界面电荷密度原位测量方法,其特征在于,包括:获取微流动芯片中并行流道的多组数据,其中,每一组数据包括并行流道两端的第一液体压降和第一液体电势降,所述并行流道内并排流动有互相不混溶的第一液体和第二液体;基于所述多组数据,以所述第一液体压降为横坐标,以所述第一液体电势降为纵坐标进行曲线拟合,获得所拟合的曲线的斜率α;根据公式获得液液界面的电荷密度;其中,所述液液界面为所述并行流道中所述第一液体和第二液体之间的界面;Ql-l代表所述电荷密度,μ代表所述第一液体的动力粘度,σ0代表所述第一液体的体电导率,H代表所述并行流道的总高度,β代表所述并行流道的几何参数,β=6WH2,W代表所述并行流道的总宽度,H<<W;Qs-l,eff代表所述第一液体与所述并行流道的内壁面材料之间的等效固液界面电荷密度;所述第一液体电势降由位于所述并行流道内的微电极对所述第一液体进行原位测量而获得,γ代表预先获得的所述第一液体压降占所述微流动芯片压降的百分比,所述并行流道的长度小于预设长度阈值。

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