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申请/专利权人：深圳市爱培科技术股份有限公司
摘要：本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种图像的低纹理区域识别方法、装置、存储介质及设备，方法包括：将待识别的图像划分为若干个像素图块；分别计算若干个所述像素图块各自的纹理数据；然后对若干个所述纹理数据进行归一化处理，得到每一个所述像素图块对应的归一化系数；将得到的每一个所述归一化系数与预设的纹理阈值进行对比，将小于所述纹理阈值的归一化系数对应的像素图块视为所述图像中的低纹理区域。本申请通过将小于纹理阈值将的归一化系数对应的像素图块视为所述图像中的低纹理区域，以快速识别出图像中的低纹理区域。
主权项：1.一种图像的低纹理区域识别方法，其特征在于，包括以下步骤：将待识别的图像划分为若干个像素图块；分别计算若干个所述像素图块各自的纹理数据；对若干个所述纹理数据进行归一化处理，得到每一个所述像素图块对应的归一化系数；从若干个所述归一化系数中选出小于纹理阈值的归一化系数；将选出所述归一化系数对应的像素图块作为所述图像中的低纹理区域；在所述将待识别的图像划分为若干个像素图块具体为：在待识别的所述图像中任意取一个像素点；以所述像素点为中心，按照预设像素面积截取像素图块；重复任意另取一个像素点，再次以该像素点为中心，按照预设像素面积截取像素图块，直至所述图像划分为若干个所述像素图块；所述分别计算若干个所述像素图块各自的纹理数据包括：计算若干个所述像素图块的方差；基于所述方差，计算若干个所述像素图块的纹理系数，将所述纹理系数作为像素图块的纹理数据；计算所述方差的方差公式为： 其中，为所述像素图块的方差，n为所述像素图块的数量，xi为任意取的像素点，为截取的所述像素图块的像素平均值；计算所述纹理系数的纹理系数公式为： 其中，tx为纹理系数，tmin和εvar为自定义的经验值；计算所述归一化系数的归一化公式为： 其中，X为归一化系数，x为纹理系数tx，max为若干个所述纹理系数中的最大值，min为若干个所述纹理系数中的最小值。
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权利要求：
百度查询： 深圳市爱培科技术股份有限公司 一种图像的低纹理区域识别方法、装置、存储介质及设备
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