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申请/专利权人：和芯半导体科技(苏州)有限公司
摘要：本实用新型涉及一种基于射频芯片性能测试的夹具，包括固定底座，所述固定底座的一侧设有产品放置区域，所述产品放置区域内连接有用于放置产品的测试电路板组件，所述固定底座的另一侧上连接有竖板，所述竖板的上方连接有固定板，所述固定板上连接有升降装置，所述升降装置的升降杆上连接有用于将产品压紧的压紧块。本实用新型能提高管脚的准确接触，提高测试的准确性，同时还能提高工作效率。
主权项：1.一种基于射频芯片性能测试的夹具，其特征在于：包括固定底座1，所述固定底座1的一侧设有产品放置区域，所述产品放置区域内连接有用于放置产品的测试电路板组件2，所述固定底座1的另一侧上连接有竖板3，所述竖板3的上方连接有固定板4，所述固定板4上连接有升降装置5，所述升降装置5的升降杆上连接有用于将产品压紧的压紧块6；所述测试电路板组件2包括测试电路固定架21，所述测试电路固定架21上连接有测试固定平台22，所述测试固定平台22上连接有测试电路板23，所述测试电路板23上连接有用于放置产品的测试区域、用于产品供电的供电线缆、射频输入信号线缆和射频输出信号线缆，所述测试固定平台22上连接有导向柱24，所述导向柱24上滑动连接有测试导向板25，所述测试导向板25与测试固定平台22之间的导向柱24套装有升降弹簧28，所述测试导向板25上开设有与测试区域相对应的导向窗口26，所述导向窗口26的侧边上开设有与产品引脚相对应的导向引脚孔27，同时导向引脚孔27与测试区域上产品的引脚插孔相对应。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 和芯半导体科技(苏州)有限公司 一种基于射频芯片性能测试的夹具
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