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申请/专利权人:杭州微纳核芯电子科技有限公司
摘要:本发明涉及一种DRAM近存封装结构及其封装方法,包括:基板;晶圆,设置在基板上;引线,分别连接基板和晶圆;其中,晶圆上形成刻蚀;引线一端连接晶圆上刻蚀位置,引线另一端连接基板。晶圆包括第一芯片和混合键合在第一芯片上的第二芯片;其中,第一芯片为逻辑芯片或内存芯片;第二芯片不同于第一芯片,混合键合在第一芯片上;其中,当第一芯片为逻辑芯片时,第二芯片为内存芯片;当第一芯片为内存芯片时,第二芯片为逻辑芯片。解决了现有方案中封装方法成本较高,制备的封装结构中硅通孔对封装结构的设计和应力都会产生影响,也会限制片间传输宽带的问题。
主权项:1.一种DRAM近存封装结构,其特征在于,包括:基板1;晶圆2,设置在所述基板1上;引线3,分别连接所述基板1和所述晶圆2;其中,所述晶圆2上形成刻蚀;所述引线3一端连接所述晶圆2上刻蚀位置,所述引线3另一端连接所述基板1;所述晶圆2包括第一芯片21和混合键合在所述第一芯片21上的第二芯片22;其中,所述第一芯片21为逻辑芯片或内存芯片;所述第二芯片22不同于所述第一芯片21,混合键合在所述第一芯片21上;其中,当所述第一芯片21为逻辑芯片时,所述第二芯片22为内存芯片;当所述第一芯片21为内存芯片时,所述第二芯片22为逻辑芯片。
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