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申请/专利权人：南宁泰克半导体有限公司
摘要：本实用新型公开了一种内存条的THB测试装置，包括：测试柜、测试治具、电压适配器和PC控制模块；测试柜内部设有加温加湿器件以使内部形成高温高湿环境；测试治具置于测试柜内部，测试治具上设有cpld芯片和与cpld芯片连接的内存插槽；电压适配器的输入端用于连接外部电压源，电压适配器的输出端引入测试柜内部且分别与cpld芯片和内存插槽连接；PC控制模块的输出端引入测试柜内部且与cpld芯片连接。本实用新型设计了测试治具来替代服务器主板，测试治具的体积小，测试需要的空间小，兼容性和通用性高且成本低，并且可操作性高，输出电压可调，可以满足客户对电压加严测试的需求。
主权项：1.一种内存条的THB测试装置，其特征在于，包括：测试柜、测试治具、电压适配器和PC控制模块；所述测试柜内部设有加温加湿器件以使内部形成高温高湿环境；所述测试治具置于所述测试柜内部，所述测试治具上设有cpld芯片和与所述cpld芯片连接的内存插槽；所述电压适配器的输入端用于连接外部电压源，所述电压适配器的输出端引入所述测试柜内部且分别与所述cpld芯片和内存插槽连接；所述PC控制模块的输出端引入所述测试柜内部且与所述cpld芯片连接。
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权利要求：
百度查询： 南宁泰克半导体有限公司 一种内存条的THB测试装置
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