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申请/专利权人：英飞凌科技股份有限公司

摘要：本文描述的一些方面涉及多转计数器MTC系统，多转计数器系统包括第一MTC传感器，第一MTC传感器被配置为感测被耦合到可旋转物体的旋转磁场。第一MTC传感器可以具有第一旋转检测方向。MTC系统可以包括第二MTC传感器，第二MTC传感器可以被配置为感测旋转磁场。第二MTC传感器可以具有与第一旋转检测方向相反的第二旋转检测方向，并且第二MTC传感器被配置为根据第二旋转方向感测旋转磁场。

主权项：1.一种多转计数器MTC系统，包括：第一MTC传感器，被配置为感测被耦合到可旋转物体的旋转磁场，其中所述第一MTC传感器具有第一旋转检测方向；第二MTC传感器，被配置为感测所述旋转磁场，其中所述第二MTC传感器具有与所述第一旋转检测方向相反的第二旋转检测方向，并且所述第二MTC传感器被配置为根据所述第二旋转检测方向感测所述旋转磁场；以及控制器，被配置为：从所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器接收所述旋转磁场的测量值，其中所述测量值与所述可旋转物体的转数相关联；比较来自所述第一MTC传感器与所述第二MTC传感器的所述测量值，以验证所述第一MTC传感器可操作的用于确定所述可旋转物体的所述转数；以及基于比较所述测量值来执行动作。

全文数据：多转计数器传感器故障检测技术领域本公开的实施例涉及多转计数器传感器故障检测。背景技术多转计数器MTC传感器可以被用于确定由磁体例如，附接到可旋转物体或形成为可旋转物体的一部分的磁体产生的外部旋转磁场的圈数例如，磁场的完整旋转或部分旋转的数目。MTC传感器可以是基于磁阻MR的传感器例如，各向异性磁阻AMR传感器、隧道磁阻TMR传感器、巨磁阻GMR传感器。在一些情况下，MTC传感器可以包括畴壁发生器，畴壁发生器在MTC传感器的磁条上产生畴壁。MTC传感器的磁条上的畴壁的位置可以被用来对外部磁场的圈数进行计数。发明内容根据一些实现，一种多转计数器MTC系统可以包括：第一MTC传感器，第一MTC传感器被配置为感测被耦合到可旋转物体的旋转磁场，其中第一MTC传感器具有第一旋转检测方向；以及第二MTC传感器，第二MTC传感器被配置为感测旋转磁场，其中第二MTC传感器具有与第一旋转检测方向相反的第二旋转检测方向，并且第二MTC传感器被配置为根据第二旋转方向来感测旋转磁场。根据一些实现，一种设备可以包括一个或多个处理器以：从第一多转计数器MTC传感器接收与磁体相关联的磁场的第一测量值，其中第一MTC传感器在以第一配置被定位时感测磁场；从第二MTC传感器接收磁场的第二测量值，其中第二MTC传感器在以第二配置被定位时感测磁场，第二配置引起第二MTC传感器相对于第一MTC传感器反向感测磁场，并且第二MTC传感器以及第一MTC传感器均为第一类MTC传感器；处理第一测量值以及第二侧量值，以验证第一MTC传感器或第二MTC传感器可操作用于测量磁体的转数；并且基于第一MTC传感器或第二MTC传感器是否可操作用于确定磁体的转数来执行动作。根据一些实现，一种方法可以包括：由设备从成对的MTC传感器接收与磁体相关联的磁场的第一测量值集合，其中成对的MTC传感器被配置为反向地测量磁场；计算磁场的第一测量值集合的总和；由设备接收来自成对的MTC传感器的磁场的第二测量值集合，其中在第一测量值集合之后接收第二测量值集合；由设备计算第二测量值集合的总和；由设备比较第一测量值集合的总和与第二测量值集合的总和；当第一测量值集合的总和与第二测量值集合的总和不基本相同时，由设备确定成对的MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量磁体的转数；并且由设备执行与成对的MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于量磁体的转数相关联的动作。附图说明图1是本文描述的示例实现的概述的示图；图2是可以实现本文描述的系统和或方法的示例环境的示图；图3是图2的一个或多个设备的示例部件的示图；图4是用于多转计数器传感器故障检测的示例过程的流程图；图5A、图5B、图6、图7A和图7B是与图4中示出的示例过程相关联的多转计数器系统的示例实现的示图；以及图8-9是与图4的示例过程有关的示例实现的示图。具体实施方式在下文中参考附图详细描述了示例实现。不同图中的相同附图标记可以标识相同或相似的元件。在一些情况下，MTC传感器诸如，基于MR的角度传感器可包括磁条以及畴壁发生器DWG，以在磁条上生成畴壁。DWG可以包括附接到磁条或形成为磁条的一部分的导电材料。在一些情况下，DWG可以具有比磁条的尺寸例如，宽度更大的尺寸例如，更大的宽度或直径。DWG可以在磁条内生成畴壁，以使MTC传感器能够确定可旋转物体的转数。例如，基于磁条内的畴壁的位置和或连接到可旋转物体的磁体的磁场的方向，MTC传感器可以确定转数。因此，只要MTC传感器内的畴壁例如，180度畴壁的位置和或数量仅受到例如，由可旋转物体上的磁体生成的旋转磁场的影响，控制器可以确定可旋转物体的转数例如，施加的圈数。然而，在一些情况下，磁场中的干扰可以感应在MTC传感器内产生附加的畴壁。附加的畴壁可能以两种不同的可能方式影响确定转数的准确性。例如，作为第一选项，附加的畴壁可能最终存储在MTC传感器中。此外，附加的畴壁可能从MTC传感器擦除有效生成的畴壁。在存在干扰磁场的情况下，两种效应可能组合发生。例如，干扰可以由除了感测的磁场之外的另一磁场或者与感测的磁场组合的磁场引起，以超过阈值例如，最大磁场强度，从而在MTC传感器的磁条内的畴壁自由区域中生成自发的附加畴壁。然而，这些自发的附加畴壁不对外部磁场的旋转作出响应。在这种情况下，可能无法准确地确定计数的数目，并且可能需要重新校准使用MTC传感器的MTC系统。根据本文描述的一些实现，提供MTC系统以检测MTC传感器的畴壁模式何时无效和或MTC传感器何时不可操作用于确定磁场的准确转数。本文描述的一些实现提供了一种MTC系统，该MTC系统包括多个MTC传感器，MTC传感器被配置为测量可旋转物体或固定到可旋转物体的磁体的转数。MTC系统的示例控制器可以基于来自多个MTC传感器中的每个MTC传感器的测量值的比较，来确定一个或多个MTC传感器是否未准确地测量转数。在一些实现中，可以在MTC系统内配置两个MTC传感器，以感测磁场的彼此反向的测量值。在这种情况下，控制器可以对来自两个MTC传感器的测量值求和，并且当总和不同于固定值和或随着可旋转物体和对应的磁体旋转而改变时，确定已经发生故障例如，最里面的畴壁处于不期望的位置。在一些实现中，多个MTC传感器可以包括主MTC传感器集合和备用MTC传感器集合，使得当主传感器发生故障时，控制器可以使用备用MTC传感器集合其可以是与主MTC传感器集合不同类型的MTC传感器来确定转数和或验证备用MTC传感器可操作用于准确地确定转数。附加地或备选地，当检测到或发生故障时，可以将通知例如，警报发送到与MTC系统通信的用户接口。因此，如本文所述，提供MTC系统以确保可旋转物体和或对应的磁场的精确转数和或一个或多个MTC传感器的故障检测。这样，MTC系统可以确保正在使用MTC系统的机器、设备或其它系统例如，车辆的转向系统、车辆的离合系统等正在适当的状况下操作。此外，在MTC系统中和或使用MTC系统的机器、设备或其它系统内，可以避免由不准确的转数引起的或与其相关联的进一步的故障。在这种情况下，通过避免使用不准确的测量值和或故障的MTC系统，可以为MTC系统节省处理资源、功率资源等。如本文所使用的，转数可以指物体从起始位置的圈数例如，沿顺时针旋转方向或沿逆时针旋转方向。在一些实现中，转数可以指示的一个或多个由MTC传感器感测的磁场的完整旋转的预定部分。在一些实现中，转数可以被配置为根据预定部分的进一步的预定倍数来指示磁场的一个或多个完整旋转。因此，转数可以是逆时针两圈、顺时针一圈半等。图1是本文描述的示例实现100的概述的图。在图1中，示例MTC传感器系统利用两个MTC传感器来验证MTC传感器中的一个或两个MTC传感器可操作用于准确地确定可旋转物体的转数。如图1所示，磁体被固定到可旋转物体，并且MTC传感器示出为MTC测量传感器和MTC监测传感器被配置为测量由磁体产生的磁场。因此，图1的MTC测量传感器和MTC监测传感器在磁体的如下距离内，该距离使得MTC测量传感器和或MTC监测传感器的一个或多个畴壁能够对应于可旋转物体的旋转沿着MTC测量传感器和或MTC监测传感器的结构例如，磁条移动。如图1中所示，并且如附图标记110所示，可旋转物体例如，可旋转轴诸如，转向轴、驱动轴等和磁体旋转，从而导致磁体的磁场旋转。示例可旋转物体可以由于一些外力例如，来自用户、来自发动机等而旋转。如附图标记120所示，MTC测量传感器和MTC监测传感器在磁体旋转时反向地感测磁体的磁场。例如，MTC测量传感器和MTC监测传感器可以是相同类型的传感器例如，具有相同结构的传感器以感测磁场等，传感器被配置为相对于旋转方向来对磁场进行反向测量。更具体地，MTC测量传感器可以正面朝上布置，而MTC监测传感器可以倒置布置。在一些实现中，MTC测量传感器可以布置在磁体的与MTC监测传感器相反的一侧上。由于MTC测量传感器和MTC监测传感器的反向配置，来自磁体的旋转磁场可以使畴壁反向地移动穿过MTC测量传感器和MTC监测传感器的相应结构。如图1中进一步所示，并且如附图标记130所示，MTC系统控制器基于来自MTC测量传感器和MTC监测传感器的测量值来验证来自MTC测量传感器的可旋转物体的转数的准确性。例如，MTC系统控制器可以使用与MTC测量传感器和MTC监测传感器内的畴壁的位置相对应的测量值。MTC系统控制器可以获得来自MTC测量传感器的测量值以确定可旋转物体的转数例如，基于MTC测量传感器内的畴壁位置，并且可以获得来自MTC监测传感器的测量值例如，基于MTC监测传感器内的畴壁位置以验证来自MTC测量传感器的测量值是否准确。在一些实现中，MTC系统控制器可以通过对来自MTC测量传感器的测量值例如，在对应的时间或可旋转物体的对应的位置处进行的测量和来自MTC监测传感器的测量值进行求和来验证准确度。因为测量值被配置为彼此反向，如果测量值的总和随着可旋转物体旋转不保持固定例如，在固定值的阈值范围内，那么MTC系统控制器可以确定来自MTC测量传感器和或来自MTC监测传感器的测量值是不准确的。在一些实现中，MTC系统控制器可以发送不准确测量值的通知，关闭MTC系统，利用备用MTC传感器等。因此，可以使用如图1中所示的MTC系统的示例实现100使用多个MTC传感器来检测MTC传感器的测量故障。在这种情况下，可以避免MTC系统内和或利用MTC系统的机器、设备或其它系统内的错误和或故障。避免这种故障可以节省在故障操作期间可能以其他方式使用的处理资源、功率资源等。如上所述，仅作为示例而提供图1。其它示例是可能的并且可以与关于图1描述的示例不同。图2是可以实现本文描述的装置的示例环境200的图。如图2所示，环境200可以包括：可以围绕轴线215旋转的磁体210；一个或多个MTC传感器220-1至220-N其中N是整数且N≥1以下统称为“MTC传感器220”，并且单独地称为“MTC传感器220”；以及控制器230。磁体210包括一个或多个磁体，磁体被定位成围绕轴线215例如，假想线旋转。在一些实现中，磁体210可以例如，机械地连接到可旋转物体未示出，使得磁体210的旋转角度和或转数对应于可旋转物体的旋转角度和或转数例如，当可旋转物体的端面与磁体210之间存在非滑动关系时。在图2所示的示例环境200中，磁体210包括形成北磁极N的第一半和形成南磁极S的第二半，使得磁体210包括一个磁极对。在一些实现中，磁体210可以但不限于包括一个以上的磁极对。在一些实现中，如图2所示，磁体210可以包括围绕轴线215同心地定位的磁盘磁体，轴线215穿过磁体210的中心。虽然在图2中磁体210被示出为圆形，但是磁体210可以是另一种形状，诸如正方形、矩形、椭圆形等。在一些实现中，在对应于磁体210的表面的平面与轴线215之间角度偏离基本垂直的关系的情况下，磁体210可以是椭圆形的。平面可以包括对称地穿过磁体210并且包括磁体210的磁体中心的平面。在一些实现中，平面可以基本上垂直于轴线215。作为另一个示例，磁体210可以包括被定位成围绕轴线215与可旋转物体一起旋转的环形磁体。对于在可旋转物体的端部处的磁体210的布置，环形磁体可能是感兴趣的。在一些实现中，磁体210可以包括在磁体210的至少两个部分上的两个交替的磁极。例如，如图2所示，磁体210可以包括径向磁化的磁体，其具有在磁体210的第一半上的北磁极以及在磁体210的第二半上的南磁极。作为另一个示例，磁体210可以包括轴向磁化的磁体，其具有堆叠在磁体210的第一半上的第一北磁极和第一南磁极，以及堆叠在磁体210的第二半上的第二南磁极和第二北磁极未示出。附加地或备选地，磁体210可以包括：偶极磁体例如，偶极条形磁体、圆形偶极磁体、椭圆形偶极磁体等、永磁体、电磁体、磁带等。磁体210可以由铁磁材料例如，硬铁氧体组成，并且可以产生磁场。磁体210可以进一步包括稀土磁体，由于稀土磁体的固有高磁场强度，稀土磁体可能是有利的。如上所述，在一些实现中，磁体210可以附接到可旋转物体或集成到可旋转物体中，对于可旋转物体，可以基于磁体210的旋转角度和或转数例如，通过MTC传感器220、通过控制器230来确定旋转角度和或转数。MTC传感器220包括用于感测磁场分量的一个或多个装置，该磁场分量用于确定例如，磁体210的、磁体210附接至其或形成为其一部分的可旋转物体的转数。例如，MTC传感器220可以包括一个或多个电路例如，一个或多个集成电路和或一个或多个结构例如，磁条。在一些实现中，MTC传感器220可以相对于磁体210放置在使得MTC传感器220可以检测由磁体210产生的磁场的分量的位置。在一些实现中，MTC传感器220可以包括集成电路，该集成电路包括集成控制器230例如，使得MTC传感器220的输出可以包括描述磁体210和或可旋转物体的旋转角度和或转数的信息。在一些实现中，MTC传感器220可以包括一组感测元件，该一组感测元件被配置为感测由磁体210产生的磁场的存在于MTC传感器220处的分量。例如，MTC传感器220可以包括例如，基本上布置在靠近磁体210的第一平面上的与确定旋转角度和或转数相关联的第一感测元件以及例如，基本上布置在远离磁体210的第二平面上的与确定旋转角度和或转数相关联的第二感测元件。在一些实现中，MTC传感器220能够以非饱和模式操作即，与MTC传感器220的感测元件相关联的输出信号取决于磁场的强度。控制器230包括一个或多个电路，该一个或多个电路与确定磁体210和或可旋转物体的旋转角度和或转数相关联，并且提供与磁体210的转数相关联的信息。例如，控制器230可以包括一个或多个电路例如，集成电路、控制电路、反馈电路等。控制器230可以从一个或多个传感器诸如，MTC传感器220中的一个或多个传感器接收输入信号，可以例如，使用模拟信号处理器、数字信号处理器等处理输入信号以生成输出信号，并且可以将输出信号提供给一个或多个其它设备或系统。例如，控制器230可以接收来自MTC传感器220的一个或多个输入信号，使用一个或多个输入信号来确定MTC传感器中的一个或多个传感器是否准确地测量磁体210的转数，并且生成包括磁体210和或可旋转物体的角位置或转数的输出信号和或包括MTC传感器是否可操作例如，来自MTC传感器中的一个或多个传感器的测量值是否是准确的的指示的输出信号。图2中所示的装置的数量和布置被提供作为示例。实际上，可能存在附加的装置、更少的装置、不同的装置、或与图2中所示的那些装置不同地布置的装置。此外，图2中所示的两个或多个装置可以在单个装置内实现，或者图2中所示的单个装置可以实现为多个分布式装置。附加地或备选地，环境200的一组装置例如，一个或多个装置可以执行被描述为由环境200的另一组装置执行的一个或多个功能。图3是设备300的示例部件的图。设备300可以对应于图2的一个或多个MTC传感器220和或控制器230。在一些实现中，MTC传感器220和或控制器230可以包括一个或多个设备300和或设备300的一个或多个部件。如图3所示，设备300可以包括：总线310、处理器320、存储器330、存储部件340、输入部件350、输出部件360和通信接口370。总线310包括允许设备300的部件之间通信的部件。处理器320以硬件、固件或硬件和软件的组合来实现。处理器320是中央处理单元CPU、图形处理单元GPU、加速处理单元APU、微处理器、微控制器、数字信号处理器DSP、现场可编程门阵列FPGA、专用集成电路ASIC或其它类型的处理部件。在一些实现中，处理器320包括能够被编程为执行功能的一个或多个处理器。存储器330包括随机存取存储器RAM、只读存储器ROM和或由处理器320使用的用于存储信息和或指令的另一类型的动态或静态存储设备例如，闪存、磁存储器和或光学存储器。存储部件340存储与设备300的操作和用途有关的信息和或软件。例如，存储部件340可以包括：硬盘例如，磁盘、光盘、磁光盘、和或固态盘、光碟CD、数字通用光碟DVD、软盘、盒式磁带、磁带、和或其它类型的非瞬态计算机可读介质、以及对应的驱动器。输入部件350包括允许设备300接收信息的部件，诸如：经由用户输入例如，触摸屏显示器、键盘、小键盘、鼠标、按钮、开关、和或麦克风。附加地或备选地，输入部件350可以包括用于感测信息的传感器例如，全球定位系统GPS部件、加速度计、陀螺仪、和或致动器。输出部件360包括从设备300例如，显示器、扬声器、和或一个或多个发光二极管LED提供输出信息的部件。通信接口370包括收发器之类的部件例如，收发器和或单独的接收器和发送器，其使得设备300能够诸如，经由有线连接、无线连接、或有线和无线连接的组合与其它设备通信。通信接口370可以允许设备300从另一设备接收信息和或向另一设备提供信息。例如，通信接口370可以包括：以太网接口、光学接口、同轴接口、红外接口、射频RF接口、通用串行总线USB接口、Wi-Fi接口、蜂窝网络接口等。设备300可以执行本文描述的一个或多个过程。设备300可以基于处理器320执行由非瞬态计算机可读介质诸如，存储器330和或存储部件340存储的软件指令来执行这些过程。计算机可读介质在本文中被定义为非瞬态存储器设备。存储器设备包括单个物理存储设备内的存储器空间或跨多个物理存储设备的存储器空间。软件指令可以经由通信接口370从另一计算机可读介质或从另一设备读入存储器330和或存储部件340中。当被执行时，存储在存储器330和或存储部件340中的软件指令可以使得处理器320执行本文描述的一个或多个过程。附加地或备选地，可以使用硬连线电路代替软件指令或与软件指令组合来执行本文描述的一个或多个过程。因此，本文描述的实现不限于硬件电路和软件的任何特定组合。提供图3中所示的部件的数目和布置作为示例。实际上，设备300可以包括附加的部件、更少的部件、不同的部件、或与图3中所示的部件不同地布置的部件。附加地或备选地，设备300的一组部件例如，一个或多个部件可以执行被描述为由设备300的另一组部件执行的一个或多个功能。图4是用于多转计数器传感器故障检测的示例过程400的流程图。在一些实现中，图4的一个或多个过程块可以由控制器230执行。在一些实现中，图4的一个或多个过程块可以由另一个设备或与控制器230分开或包括控制器230的一组设备诸如，MTC传感器220执行。如图4所示，过程400可以包括从多个MTC传感器接收与磁体相关联的磁场的测量值，其中多个MTC传感器中的至少两个MTC传感器相对于磁场被反向配置块410。例如，控制器230可以从多个MTC传感器220接收磁体210的磁场的测量值。在一些实现中，控制器230可以基于与测量磁场的MTC传感器220相关联的时间表、基于检测与磁体210相关联的可旋转物体旋转、基于MTC传感器220感测磁体的旋转、基于MTC传感器220测量与磁体相关联的磁场、基于被通电、基于与控制器230相关联的MTC系统被通电等接收测量值。根据一些实现，测量值可以包括由MTC传感器220测量或感测的任何值或信息。例如，测量值可以包括或表示MTC传感器220的结构中的一个或多个畴壁例如，180度畴壁的位置。在一些实现中，测量值可以是来自MTC传感器220的结构例如，磁条的一个或多个半桥的电压测量值。基于电压测量值，控制器230和或MTC传感器220可以确定MTC传感器内的畴壁的位置例如，沿着MTC传感器的结构的畴壁的位置。在一些实现中，多个MTC传感器220中的两个MTC传感器可以相对于磁体210反向地配置，使得两个MTC传感器220反向地感测磁场。因此，当两个MTC传感器220是相同类型的MTC传感器220时，控制器230可以从两个MTC传感器220接收彼此反向的测量值。例如，当两个MTC传感器具有相同的结构或基本相同的结构例如，相同的磁条，具有相同的形状例如，相同的螺旋形状、相同的交叉图案形状、相同的环形结构的旋转方向等、相同的尺寸例如，相同的宽度、相同的长度等、相同的材料等时，两个MTC传感器220可能是相同类型。因此，如果相同类型的两个MTC传感器220相对于磁体彼此相反地配置，那么两个MTC传感器220可以反向地感测磁体210的磁场并且向控制器230提供彼此反向的测量值。例如，由于畴壁基于磁体210和对应的磁场的旋转和或圈而位于相应的MTC传感器220的结构的反向位置处，所以测量值可以彼此反向。例如，当第一MTC传感器220-1包括由旋转的外部磁场引起的一个或多个畴壁时，第二MTC传感器220-2可以被清空畴壁，使得第一MTC传感器220-1指示增加的转数数目，而第二MTC传感器220-2指示减少的转数数目。在一些实现中，控制器230可以从MTC传感器220接收对应的测量值集合，使得至少两个MTC传感器220在相同或基本相同的时刻进行对应的测量。因此，控制器230可以同时从所有的MTC传感器220和或MTC传感器的一部分接收测量值，使得可以比较对应的测量值集合以确定MTC传感器220中的至少一个或多个MTC传感器是否可操作用于准确地确定与磁体210和或对应的可旋转物体相关联的转数。以这种方式，控制器230可以从MTC传感器220接收测量值，以允许控制器230处理测量值，以确定与一个或多个MTC传感器220相关联的故障是否发生和或MTC传感器220是否正常地运行。如图4中进一步所示，过程400可以包括处理来自MTC传感器的测量值，以验证多个MTC传感器中的至少一个MTC传感器可操作用于测量与磁体相关联的转数块420。例如，控制器230可以分析或比较来自MTC传感器220的测量值。在一些实现中，控制器230可以基于从MTC传感器220接收测量值、基于检测磁体的旋转等来处理测量值。根据一些实现，控制器230通过根据控制器230和或控制器230的MTC系统的配置和或设置例如，默认设置、经由用户输入接收的设置等分析测量值来处理测量值。在一些实现中，控制器230可以通过对测量值执行操作来处理测量值，以确定可以表示一个或多个MTC传感器220的可操作性的值。例如，控制器230可以计算包括在相同或基本相同的时刻取得的、来自至少两个MTC传感器220例如，被配置为对磁场进行反向测量的成对的MTC传感器220的测量值的测量值集合的总和，以确定测量值的总和的值。测量值的总和的值可以指示两个MTC传感器220中的至少一个MTC传感器的故障和或可操作性。因此，控制器230可以使用测量值或测量值的比较、或测量值的总和的值以验证MTC传感器可操作用于确定磁体210的转数。在一些实现中，控制器230可以处理和或比较测量值的系列或序列和或测量值的总和的系列，以确定测量值和或测量值的总和是否随着磁体210旋转而改变。例如，如果控制器230从测量值的系列确定来自两个MTC传感器220的测量值的总和改变即，未保持处于阈值内的恒定值，那么控制器230可以确定两个MTC传感器220中的一个MTC传感器已经发生故障和或是不可操作的。这样，控制器230可以确定来自MTC传感器220的测量值的第一总和，并且将该总和与来自MTC传感器220的测量值的先前总和进行比较，以确定总和是否已经改变或保持固定。由于反向配置，如果总和已经改变，则控制器230可以确定已经发生故障，而如果总和保持固定或恒定，则控制器230可以确定还未发生故障并且MTC传感器220可操作用于确定磁体210的转数。根据一些实现，控制器230可以基于比较和或处理来自MTC传感器220的测量值来确定MTC传感器220中的至少一个MTC传感器已经发生故障或是不可操作的。在这种情况下，故障的MTC传感器220可能例如，由于磁体210的磁场中的干扰已经生成位于故障的MTC传感器220的结构内的畴壁，其影响来自MTC传感器220的一个或多个半桥的电压测量值。因此，当磁体210旋转时，来自MTC传感器220的测量值在求和时可能不会保持固定值，因为畴壁在故障的MTC传感器220的结构内不正确地被生成或移动。在这种情况下，电压测量值可能不保持恒定，因为两个MTC传感器220中的一个或多个畴壁例如，指示与磁体210相关联的转数的最里面的畴壁的位置可能彼此不对应，从而改变预期的恒定总和。以这种方式，控制器230可以比较或处理来自MTC传感器220的测量值，以允许控制器230确定MTC传感器220的可操作性和或执行与确定MTC传感器220的可操作性相关联的动作。如图4中进一步所示，过程400可以包括基于至少一个MTC传感器是否可操作用于确定磁场的转数来执行动作块430。例如，控制器230可以执行动作。在一些实现中，控制器230可以基于比较来自MTC传感器220的测量值来执行动作。根据一些实现，如果控制器230基于比较测量值确定MTC传感器220的集合可操作用于确定与磁体210相关联的转数例如，来自MTC传感器220的集合的测量值当被求和时，在最近的一段时间内保持固定值，则控制器230可以继续监测和或接收来自MTC传感器220的集合的测量值。在一些实现中，控制器230可以基于比较测量值确定已经发生故障和或MTC传感器集合中的至少一个MTC传感器不可操作用于确定与磁体210相关联的转数例如，来自MTC传感器220的集合的测量值当被求和时，在最近的一段时间内不保持固定值。在这种情况下，控制器230可以执行包括停用MTC传感器220的集合其可以是主MTC传感器并且激活备用MTC传感器220的集合的动作，以确定与磁体210相关联的转数。附加地或备选地，MTC传感器220可以向用户接口发送通知例如，信息、文本、数据、电子邮件、图像、音频输出、视频输出等，以允许用户接口指示MTC传感器220的集合中的一个或多个MTC传感器的故障例如，经由显示器呈现警报、使用扬声器发出警报等。在这种情况下，通知可以指示要重新校准一个或多个MTC传感器220，以使MTC传感器能够准确地确定与磁体210相关联的转数。以这种方式，控制器230可以执行如下动作，该动作确保MTC传感器220可操作用于确定与磁体210相关联的转数，解决MTC传感器220的故障或不可操作性，和或使得例如，由用户经由重新校准等能够解决MTC传感器的任何故障或不可操作性。尽管图4示出了过程400的示例块，但是在一些实现中，过程400可以包括附加的块、更少的块、不同的块或者与图4中描绘的块不同地布置的块。附加地或备选地，过程400的块中的两个或多个块可以并行执行。图5A和5B是与图4中示出的示例过程400有关的示例实现500A、500B的图。图5A和5B示出了包括多转计数器传感器故障检测的MTC系统的示例实现。在图5A的示例实现500A中，示出了两个MTC传感器220示出为MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器MTC220-2其可以统称为MTC传感器220并且对应于图2的MTC传感器220，以及控制器230可以对应于图2的控制器230。示例实现500A和500B的MTC传感器220和控制器230被配置为当磁体210围绕轴线215旋转时测量磁体210的转数。控制器230可以基于来自MTC测量传感器220-1的测量值来确定与磁体210相关联的转数，并且验证MTC测量传感器220-1和或MTC监测传感器220-2可操作用于基于来自MTC监测传感器220-2的测量值来确定与磁体210相关联的转数。因此，示例实现500A和500B的控制器230可以使用MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2确定转数并且验证转数的准确性。如图5A中的示例实现500A所示，MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2被配置在磁体210的同一轴向侧上。如图5B中的示例实现500B所示，MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器被配置在磁体210的相对轴向侧上。如示例实现500A和500B中由MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2的箭头在相反的方向上进一步示出，MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2的定向是反向的，使得MTC测量传感器220-1相对于MTC监测传感器220-2倒置。因此，当由MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2感测时，磁场例如，与磁体210相关联可以使畴壁反向地遍历MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2的相应结构。因此，MTC测量传感器220-1可以具有磁体210的第一旋转检测方向例如，在由MTC测量传感器220-1定义的或与MTC测量传感器220-1平行的平面中的顺时针或逆时针旋转方向，并且MTC监测传感器220-2可以具有磁体210的第二旋转检测方向，第二旋转检测方向与第一旋转检测方向相反。因此，当对来自MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2的由畴壁的位置影响的测量值求和时，控制器230可以确定当所求和的测量值的值在一段时间内保持固定时，MTC测量传感器220-1和或MTC监测传感器220-2可操作用于确定与磁体210相关联的转数。另一方面，如果所求和的测量值的值在磁体210旋转时改变，那么控制器230可以确定已经发生故障并且MTC测量传感器220-1或MTC监测传感器220-2中的至少一个传感器不可操作用于准确地确定与磁体210相关联的转数。如上所述，图5A和5B仅作为示例被提供。其它示例是可能的并且可以与关于图5A和5B描述的示例不同。图6是与图4中所示的示例过程400有关的示例实现600的图。图6示出了图5A和5B的MTC传感器220的结构的示例。如附图标记610所示，尽管结构被倒置例如，由于MTC传感器220的封装或外壳相对于彼此倒置，或者由于MTC传感器220的结构在MTC传感器220的相应封装内具有相反的配置，但是可以在MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2内实现相同的二次螺旋结构例如，磁条。在电源电压抽头VDD和二次螺旋结构的接地抽头GND之间示出了多个半桥V1-V4。在图6中，从俯视图示出了二次螺旋结构相互颠倒如图5A和5B中所示。在一些方面，在图6的示例实现600的起始状态中，MTC测量传感器220-1可以包括每个第二边缘处的畴壁，并且MTC监测传感器220-2可以不包括任何畴壁。在由MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2反向感测的磁场旋转时，最内部的畴壁的位置可以针对MTC测量传感器220-1改变例如，从外部位置到内部位置并且最内部畴壁的位置可以针对MTC监测传感器220-2反向改变例如，从内部位置到外部位置。例如，从起始状态开始，在34转之后，针对MTC测量传感器220-1的最内部畴壁可以在V2处并且针对MTC监测传感器220-2的最内部畴壁可以在V3处。如图6中进一步所示，并且如附图标记620所示，可以在MTC测量传感器220-1和MTC监视传感器220-2内实现相同但倒置的非螺旋结构。在非螺旋结构的电源电压抽头VDD和接地抽头GND之间示出了多个半桥V1-V6。在图6中，非螺旋结构从俯视图示出为彼此倒置。类似于二次螺旋结构，在由MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2反向感测的磁场旋转时，最内部畴壁的位置可以针对MTC测量传感器220-1改变，并且最内部畴壁的位置可以针对MTC监测传感器220-2反向地改变。例如，在从起始状态其中MTC测量传感器220-1每个第二边缘包括畴壁并且MTC监测传感器220-2不包括任何畴壁开始半转之后，MTC测量传感器220-1可以包括在V1处半转之后的最内部畴壁，而MTC监测传感器220-2可以具有在V5处的最内部畴壁。使用来自图6的MTC传感器220的半桥的测量值，控制器230可以确定MTC传感器220中的一个或两个MTC传感器是否可操作用于确定与磁体210相关联的转数。例如，当对来自参考附图标记610所示的螺旋结构的对应半桥值和或来自参考附图标记620所示的非螺旋结构中的对应半桥值进行求和时，如果在磁体210旋转时总和的值不保值固定，那么控制器230可以确定MTC传感器220中的至少一个是不可操作的。因此，示例实现600使得控制器230能够确定磁体210的转数并且验证MTC传感器220可操作用于准确地确定磁体210的转数。如上所述，图6仅作为示例被提供。其它示例是可能的并且可以与关于图6描述的示例不同。图7A和7B是与图4中所示的示例过程400有关的示例实现700的图。图7A和7B示出了包括多转计数器传感器故障检测的MTC系统的示例实现。在图7A中，示出了四个MTC传感器220示出为主MTC测量传感器220-1、主MTC监测传感器220-2、备用MTC测量传感器220-3、和备用MTC监测传感器220-4其可以统称为MTC传感器220并且对应于图2的MTC传感器220，以及控制器230其可以对应于图2的控制器230。示例实现700的MTC传感器220被配置为在磁体210围绕轴线215旋转时，测量磁体210的转数，类似于示例实现500和示例实现600。如图7A所示，控制器230使用主MTC传感器220-1、220-2相对于彼此反向配置来确定磁体210的转数并且监测确定转数的准确性，并且使用待激活的备用MTC传感器集合或对220-3、220-4来确定当在主MTC传感器集合220中检测到故障时的转数。例如，当控制器230确定主MTC测量传感器220-1和或主MTC监测传感器220-2发生故障时，控制器230可以停用和或忽略来自主MTC测量传感器220-1和主MTC监测传感器220-2的测量值，并且激活和或获得来自备用MTC测量传感器220-3和备用MTC监测传感器220-4的测量值。在一些实现中，在示例实现700中，主MTC传感器220-1、220-2是相同类型的MTC传感器，并且备用MTC传感器220-3、220-4是相同类型的MTC传感器。在一些实现中，主MTC传感器220-1、220-2与备用MTC传感器220-3、220-4是不同类型的MTC传感器。在图7B中，图表710示出了与备用MTC传感器220-3、220-4不同类型的主MTC传感器220-1、220-2具有比备用MTC传感器220-3、220-4更低的最大磁感应特性例如，由于主MTC传感器220-1、220-2具有比备用MTC传感器220-3、220-4更细宽度的磁条。在一些方面，备用MTC传感器220-3、220-4可以适合于以比主MTC传感器220-1、220-2更高的磁感应操作。这样，在一些实现中，如果主MTC传感器220-1、220-2发生故障例如，由于磁场中的干扰，其在主MTC传感器220-1、220-2中的一个或两个MTC传感器的结构内生成畴壁，那么控制器230可以利用备用MTC传感器220-3、220-4，以确定磁体210的转数。在这种情况下，由于备用MTC传感器220-3、220-4的相对较高的磁感应特性，备用MTC传感器220-3、220-4可能不会遇到与主MTC传感器220-1、220-2相同的故障。例如，磁体210的磁场中的干扰可能影响主MTC传感器220-1、220-2的结构内的畴壁的位置，但不影响备用MTC传感器220-3、220-4的结构内的畴壁的位置。如上所述，图7A和7B仅作为示例被提供。其它示例是可能的并且可以与关于图7A和7B描述的示例不同。图8是与本文描述的MTC传感器故障检测的示例实现相关联的图。图8包括来自MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2统称为MTC传感器220的示例半桥信号测量值的图表810、820。根据一些实现，示例图表810、820可以表示来自MTC传感器220的测量值，MTC传感器220可操作用于在磁体从初始位置显示出为0度到结束位置720度完成两次旋转时，准确地确定与磁体例如，磁体210相关联的转数。假设MTC测量传感器220-1和MTC监测传感器220-2被配置为反向测量磁场，则控制器230可以对半桥信号的测量值的值求和，以确定MTC传感器220可操作用于准确地确定磁体210的转数。然而，在半桥信号的测量值中的一个或多个测量值在由控制器230接收时不会产生固定或恒定的总和的情况下，控制器230可以确定MTC测量传感器220-1或MTC监测传感器220-2中的至少一个传感器已经发生故障或者不可操作用于准确地确定磁体的转数。如上所述，图8仅作为示例被提供。其它示例是可能的并且可以与关于图8描述的示例不同。图9是与本文描述的MTC传感器故障检测的示例实现相关联的图。图9包括角度传感器的角度传感器测量值的图表900，角度传感器可以根据如本文中所描述的MTC传感器实现。例如，控制器230可以基于配置至少一个角度传感器以及至少两个MTC传感器220使用角度传感器来确保所测量的磁体210的角度是准确的。因此，如图所示，控制器230可以对来自角度传感器的测量值求和，以达到恒定的测量值。在图表900中，假设磁体210的旋转角度在从0度至720度的范围内，那么角度的恒定总和是720度。因此，如本文所述，控制器230可以以与MTC传感器220类似的方式利用一个或多个角度传感器例如，被配置为相对于彼此和或磁体210倒置，以验证角度传感器和或MTC传感器可操作用于准确地测量磁体210的旋转角度和或转数。如上所述，图9仅作为示例被提供。其它示例是可能的并且可以与关于图9描述的示例不同。因此，如本文所述，控制器230可以确定MTC系统的MTC传感器220可操作用于测量可旋转物体和或对应的磁体的准确的转数和或一个或多个MTC传感器220的故障的检测。这样，MTC系统可以确保正在使用MTC系统的机器、设备、或其它系统例如，车辆的转向系统、车辆的离合系统等正在适当的状况下操作。此外，在MTC系统中和或在利用MTC系统的机器、设备或其它系统内，可以避免由可旋转物体的不准确转数引起的或与之相关联的进一步的故障。在这种情况下，通过避免使用不准确的测量值和或发生故障的MTC系统，可以为MTC系统节省处理资源、功率资源等。前述公开提供了说明和描述，但并不旨在穷举或将实现限制为所公开的精确形式。鉴于以上公开，修改和变化是可能的或者可以从实现的实践中获得。如本文所使用的，术语部件旨在广义地解释为硬件、固件、或硬件和软件的组合。本文结合阈值描述了一些实现。如本文所使用的，满足阈值可以指值大于阈值、多于阈值、高于阈值、大于或等于阈值、小于阈值、少于阈值、低于阈值、小于或等于阈值、等于阈值等。明显的是，本文描述的系统和或方法可以以不同形式的硬件、固件、或硬件和软件的组合来实施。用于实施这些系统和或方法的实际专用控制硬件或软件代码不限制实现。因此，本文描述了系统和或方法的操作和行为，而没有参考特定的软件代码——应理解，可以将软件和硬件设计为基于本文的描述来实施系统和或方法。尽管在权利要求书中陈述和或在说明书中公开了特征的特定组合，但是这些组合并不旨在限制可能实现的公开。实际上，许多这些特征可以以未在权利要求书中具体陈述和或未在说明书中公开的方式组合。尽管下面列出的每个从属权利要求可以直接仅从属于一个权利要求，但是可能实现的公开包括与权利要求书中的每个其它权利要求相结合的每个从属权利要求。除非明确地如此描述，否则本文使用的元件、动作或指令不应被解释为关键的或必要的。此外，如本文所使用的，冠词“一”和“一个”旨在包括一个或多个条目，并且可以与“一个或多个”互换使用。此外，如本文所使用的，术语“集合”旨在包括一个或多个条目例如，相关条目、不相关条目、相关和不相关条目的组合等，并且可以与“一个或多个”互换使用。在仅有一个条目的情况下，使用术语“一个”或类似语言。此外，如本文所使用的，术语“具有”、“含有”、“具有的”等意图是开放式的术语。此外，除非另有明确说明，否则短语“基于”旨在表示“至少部分地基于”。

权利要求：1.一种多转计数器MTC系统，包括：第一MTC传感器，被配置为感测被耦合到可旋转物体的旋转磁场，其中所述第一MTC传感器具有第一旋转检测方向；以及第二MTC传感器，被配置为感测所述旋转磁场，其中所述第二MTC传感器具有与所述第一旋转检测方向相反的第二旋转检测方向，并且所述第二MTC传感器被配置为根据所述第二旋转方向感测所述旋转磁场。2.根据权利要求1所述的MTC系统，进一步包括：控制器，被配置为：从所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器接收所述旋转磁场的测量值，其中所述测量值与所述可旋转物体的转数相关联；比较来自所述第一MTC传感器与所述第二MTC传感器的所述测量值，以验证所述第一MTC传感器可操作的用于确定所述可旋转物体的所述转数；基于比较所述测量值来检测与所述第一MTC传感器相关联的故障；并且执行与所述故障相关联的动作。3.根据权利要求2所述的MTC系统，其中当执行所述动作时，所述控制器被配置为：发送指示所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器发生故障的通知。4.根据权利要求2所述的MTC系统，其中当执行所述动作时，所示控制器被配置为：停用所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器中的至少一个MTC传感器；并且激活一个或多个备用MTC传感器，以确定所述可旋转物体的所述转数。5.根据权利要求4所述的MTC系统，其中所述一个或多个备用MTC传感器是与所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器不同类型的MTC传感器。6.根据权利要求1所述的MTC系统，其中所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器是相同类型的传感器。7.根据权利要求1所述的MTC系统，其中所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器被反向地配置并且轴向地位于所述磁体的同一侧上。8.根据权利要求1所述的MTC系统，其中所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器被反向地配置并且轴向地位于所述磁体的相对侧上。9.一种设备，包括：一个或多个处理器，用于：从第一多转计数器MTC传感器接收与磁体相关联的磁场的第一测量值，其中所述第一MTC传感器在以第一配置被定位时感测所述磁场；从第二MTC传感器接收所述磁场的第二测量值，其中所述第二MTC传感器在以第二配置被定位时感测所述磁场，所述第二配置使得所述第二MTC传感器相对于所述第一MTC传感器反向地感测所述磁场，并且所述第二MTC传感器与所述第一MTC传感器均为第一类型的MTC传感器；处理所述第一测量值和所述第二测量值，以验证所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器可操作用于测量所述磁体的转数；并且基于所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器是否可操作用于确定所述磁体的所述转数来执行动作。10.根据权利要求9所述的设备，其中当处理所述第一测量值和所述第二测量值时，所述一个或多个处理器用于：确定所述第一测量值和所述第二测量值的总和；确定所述第一测量值和所述第二测量值的总和不同于来自所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器的测量值的先前的总和；并且基于所述第一测量值和所述第二测量值的总和不同于来自所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器的测量值的所述先前的总和，确定所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器不可操作用于确定所述磁体的所述转数。11.根据权利要求9所述的设备，其中当处理所述第一测量值和所述第二测量值时，所述一个或多个处理器用于：确定所述第一测量值和所述第二测量值的总和；确定所述第一测量值和所述第二测量值的总和与来自所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器的测量值的先前的总和基本相同；并且基于所述第一测量值和所述第二测量值的总和与测量值的所述先前的总和基本相同，确定所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器可操作用于确定所述磁体的所述转数。12.根据权利要求9所述的设备，其中当确定所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量所述转数时，所述一个或多个处理器在执行所述动作时用于：将通知发送到与所述设备相关联的用户接口，以使得所述用户接口指示所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量所述转数。13.根据权利要求9所述的设备，其中当确定所述第一MTC传感器或所述第二MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量所述转数时，所述一个或多个处理器在执行所述动作时用于：停用所述第一MTC传感器和所述第二MTC传感器；并且激活第一备用MTC传感器和第二备用MTC传感器，其中所述第一备用MTC传感器被配置为相对于所述第二备用MTC传感器反向地测量所述磁场。14.根据权利要求13所述的设备，其中所述第一备用MTC传感器和所述第二备用MTC传感器均为第二类型的MTC传感器，并且所述第二类型的MTC传感器具有比所述第一类型的MTC传感器更高的磁感应特性，或者适于以比所述第一类型的MTC传感器更高的磁感应进行操作。15.一种方法，包括：由设备从成对的MTC传感器接收与磁体相关联的磁场的第一测量值集合，其中所述成对的MTC传感器被配置为反向地测量所述磁场；计算所述磁场的所述第一测量值集合的总和；由所述设备从所述成对的MTC传感器接收所述磁场的第二测量值集合，其中在所述第一测量值集合之后接收所述第二测量值集合；由所述设备计算所述第二测量值集合的总和；由所述设备比较所述第一测量值集合的总和与所述第二测量值集合的总和；当所述第一测量值集合的总和与所述第二测量值集合的总和不基本相同时，由所述设备确定所述成对的MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量所述磁体的转数；以及由所述设备执行与所述成对的MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量所述磁体的所述转数相关联的动作。16.根据权利要求15所述的方法，其中比较所述第一测量值集合的总和与所述第二测量值集合的总和包括：确定所述第一测量值集合的总和是否与所述第二测量值集合的总和基本相同。17.根据权利要求15所述的方法，其中所述成对的MTC传感器被配置为：基于所述成对的MTC传感器在所述磁体的同一轴向侧上相对于彼此以反向定向被配置，反向地测量与所述磁体相关联的所述磁场。18.根据权利要求15所述的方法，其中：所述第一测量值集合包括在基本相同的第一时间测量的、来自所述成对的MTC传感器中的第一MTC传感器的第一测量值和来自所述成对的MTC传感器中的第二MTC传感器的第一测量值，并且所述第二测量值集合包括在基本相同的第二时间测量的、来自所述成对的MTC传感器中的所述第一MTC传感器的第二测量值和来自所述成对的MTC传感器中的所述第二MTC传感器的第二测量值。19.根据权利要求15所述的方法，其中执行所述动作包括：发送所述成对的MTC传感器中的至少一个MTC传感器不可操作用于测量所述磁体的所述转数的通知。20.根据权利要求15所述的方法，其中执行所述动作包括：使用与所述成对的MTC传感器不同的成对的备用MTC传感器来确定所述磁体的所述转数。

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