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一种国产AD芯片的校准方法、系统、装置、设备及介质 

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申请/专利权人:上海思源弘瑞自动化有限公司

摘要:本发明公开了一种国产AD芯片的校准方法、系统、装置、设备及介质,该方法包括:确定第一温度范围内的目标数据偏差信息;根据目标数据偏差信息确定数据偏差中心点信息;根据数据偏差中心点信息确定校准系数;基于校准系数对国产AD芯片的输出数据进行校准。本发明通过确定第一温度范围内的目标数据偏差信息;其中,第一温度范围可以指室温范围,目标数据偏差信息可以从样本数据集中获取;根据从样本数据集中获取的目标数据偏差信息,通过公式计算得到数据偏差中心点信息;根据数据偏差中心点信息进一步确定校准系数;基于确定的校准系数使得国产AD芯片在室温范围下的校准能够满足全量程范围数据精度的要求,优化目标产品生产的效率。

主权项:1.一种国产AD芯片的校准方法,其特征在于,包括:确定第一温度范围内的目标数据偏差信息;根据所述目标数据偏差信息确定数据偏差中心点信息;根据所述数据偏差中心点信息确定校准系数;基于所述校准系数对国产AD芯片的输出数据进行校准。

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权利要求:

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