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申请/专利权人:浙江芯晟半导体科技有限责任公司
摘要:本发明公开了一种兼容刻蚀硅和多晶硅的刻蚀方法,使用HBr作为主刻蚀气体,SF6作为辅助刻蚀气体,并采用轰击的方式进行刻蚀,直至达到预设刻蚀时长或预设刻蚀深度。本发明中,在硅和多晶硅同时刻蚀时,使用HBr作为主刻蚀气体,SF6作为辅助刻蚀气体来完成,相比于SF6作为主刻蚀气体来说各向异性反应很小,且HBr刻蚀过程中会生成大量polymer生成物聚合物来保护侧壁,不会带来多晶硅孔的侧壁钻蚀现象,但由于HBr刻蚀速率很慢,所以加入少量SF6来提升刻蚀速率。本发明可以更好地控制刻蚀深度,对硅孔和多晶硅孔的形貌有更好的改善作用。
主权项:1.一种兼容刻蚀硅和多晶硅的刻蚀方法,其特征在于,使用HBr作为主刻蚀气体,SF6作为辅助刻蚀气体,并采用轰击的方式进行刻蚀,直至达到预设刻蚀时长或预设刻蚀深度。
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百度查询: 浙江芯晟半导体科技有限责任公司 一种兼容刻蚀硅和多晶硅的刻蚀方法
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