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申请/专利权人：江阴纳力新材料科技有限公司
摘要：本实用新型涉及薄膜基材加工技术领域，公开一种薄膜表面凸点高度测量装置，包括辊压装置和检测装置，辊压装置用于对薄膜进行辊压，薄膜表面具有凸点，辊压装置可以将薄膜表面的凸点压小或压除，可提高薄膜的产品质量。检测装置设置于辊压装置的下游，检测装置包括相对设置的第一上辊和第一下辊，薄膜经过辊压装置辊压后，将继续流向第一上辊和第一下辊之间，第一上辊的外周面设置有压敏层，在利用第一上辊和第一下辊对薄膜进行再次辊压时，压敏层将抵压薄膜表面的凸点，而不同高度的凸点使得不同区域的压敏层受到的压力信号不同，可反馈薄膜表面不同区域的凸点高度，以实现对薄膜凸点的无损检测。
主权项：1.薄膜表面凸点高度测量装置，其特征在于，包括：检测装置1，包括第一上辊11、第一下辊12和处理器，所述第一上辊11的外周面设置有压敏层111，薄膜能够穿设于所述第一上辊11和所述第一下辊12之间，以使所述压敏层111抵压所述薄膜上的凸点，所述压敏层111与所述处理器信号连接，所述处理器用于根据所述压敏层111输出的压力信号反馈所述凸点的高度；辊压装置2，设置于所述检测装置1的上游，所述辊压装置2用于辊压所述薄膜。
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