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X射线检测设备 

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申请/专利权人:无锡日联科技股份有限公司

摘要:本实用新型属于无损检测技术领域,公开了X射线检测设备。该X射线检测设备包括铅房、X射线源、平板探测器以及可视光源,X射线源设置于铅房内且用于向待检测件发X射线,平板探测器设置于铅房内且用于接收X射线,平板探测器与X射线源相对设置且平板探测器与X射线源之间的距离可调,待检测件位于平板探测器与X射线源之间,可视光源用于发出可视光,可视光源设置于X射线源,可视光的照射路径与X射线的照射路径一致。可视光照射到待检测件,待检测件被照射到的区域和位置显示在平板探测器上,该区域和位置与X射线照射到待检测件的区域和位置相同,该X射线检测设备可以直接看到X射线照射到待检测件的位置和区域,使用方便且工作效率高。

主权项:1.X射线检测设备,其特征在于,包括:铅房10;X射线源20,设置于所述铅房10内且用于向待检测件发X射线:平板探测器30,设置于所述铅房10内且用于接收所述X射线,所述平板探测器30与所述X射线源20相对设置且所述平板探测器30与所述X射线源20之间的距离可调,所述待检测件位于所述平板探测器30与所述X射线源20之间:以及可视光源40,用于发出可视光,所述可视光源40设置于所述X射线源20,所述可视光的照射路径与所述X射线的照射路径一致。

全文数据:

权利要求:

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