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申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
摘要：一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质，涉及一种设计规则检查结果的过滤方法，包括：获取原始版图，确定待过滤测试结构；基于原始版图和待过滤测试结构，获取第二版图；第二版图只包含待过滤测试结构相关的图元；对原始版图和第二版图分别进行设计规则检查，得到原始版图和第二版图的设计规则检查结果文件；基于原始版图和第二版图设计规则检查结果文件之间的差异，得到过滤后的结果文件。本发明可自动过滤由测试结构产生的设计规则检查错误，并准确地获取由非测试结构引起的设计规则检查错误，减少检查判断的时间、人力成本以及人工检查的错误率，并且不会产生遗漏。
主权项：1.一种设计规则检查结果的过滤方法，其特征在于，包括：获取原始版图，确定待过滤测试结构；基于所述原始版图和所述待过滤测试结构，获取只包含所述待过滤测试结构相关图元的第二版图；对所述原始版图和所述第二版图分别进行设计规则检查，得到所述原始版图设计规则检查的第一结果文件和所述第二版图设计规则检查的第二结果文件；基于所述第一结果文件和所述第二结果文件之间的差异，得到过滤后的结果文件。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质
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