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基于GNN-Transformer的逻辑综合电路面积预测方法 

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申请/专利权人:杭州电子科技大学

摘要:本发明公开基于GNN‑Transformer的逻辑综合电路面积预测方法,该方法包括:构建逻辑综合电路面积预测数据集,所述数据集RTLverilog描述的电路,以及由逻辑综合工具提供的一系列优化算子排列组成的优化序列,以及电路综合后的面积作为标签;构建基于GNN‑Transformer的逻辑综合电路面积预测模型。本发明通过利用来自电路和优化序列的时空信息,并考虑了不同规模电路的数据标签跨度大对模型训练产生的影响,能够对不同规模电路进行更加精确的预测。

主权项:1.基于GNN-Transformer的逻辑综合电路面积预测方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤S1:构建逻辑综合电路面积预测数据集,并将数据集划分成训练集、验证集和测试集;所述数据集包含输入数据和标签数据;输入数据包含RTLverilog描述的电路,以及由逻辑综合工具提供的多个优化算子排列组成的优化序列,标签数据采用电路逻辑综合后的面积;步骤S2:对输入数据和标签数据进行预处理;步骤S3:构建基于GNN-Transformer的逻辑综合电路面积预测模型,并利用预处理后的数据集进行训练、验证和测试;所述基于GNN-Transformer的逻辑综合电路面积预测模型包括增强GNN模块、Transformer模块和分类器;所述增强GNN模块用于学习电路的结构特征;所述Transformer模块用于学习优化序列的时间特征;所述分类器用于将电路的结构特征和优化序列的时间特征进行拼接,然后进行分类预测;步骤S4:利用训练、验证和测试好的基于GNN-Transformer的逻辑综合面积预测模型,进行电路的逻辑综合面积预测。

全文数据:

权利要求:

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