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申请/专利权人:哈尔滨工业大学
摘要:本发明属于扫描电子显微镜制样技术领域,涉及一种可重复用于电镜观察的微米级颗粒截面的制备方法,包括如下步骤:步骤一:将待观测粉末平铺于导电金属片的待观测粉末测试段上;步骤二:用冷镶嵌溶液将待观测粉末全部包覆在所述导电金属片上;步骤三:待冷镶嵌溶液将待观测粉末固定在导电金属片上;步骤四:把导电金属片放入模具中,用冷镶嵌溶液填充模具,将导电金属片弯折段的一端竖直伸出冷镶嵌溶液,将有待观测粉末的一侧朝向模具的底部;步骤五:待模具内的冷镶嵌溶液固化后进行脱模,打磨含有待观测粉末的覆盖区域,获得用于扫描电镜观察的颗粒截面。本方法无需任何设备,成本低;易氧化的样品一次制样之后可样品可重复使用。
主权项:1.一种可重复用于电镜观察的微米级颗粒截面的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:包括导电金属片(1),所述导电金属片(1)包括待观测粉末测试段和弯折段,将待观测粉末(4)平铺于导电金属片(1)的待观测粉末测试段的一侧;步骤二:用冷镶嵌溶液(2)将所述待观测粉末(4)之间的空间和裂隙充满并全部包覆在所述导电金属片(1)上,所述冷镶嵌溶液(2)包括聚甲基丙烯酸甲酯CAS9011-14-7与金相环氧固化剂;步骤三:待冷镶嵌溶液(2)将所述待观测粉末(4)固定在导电金属片(1)上;步骤四:把步骤三中的导电金属片(1)放入内具空腔的模具(3)中,用冷镶嵌溶液(2)填充模具(3)内的空腔,将导电金属片(1)弯折段的一端竖直伸出冷镶嵌溶液(2),且将待观测粉末测试段设置有待观测粉末(4)的一侧朝向模具(3)的底部;所述弯折段与待观测粉末测试段之间的夹角为大于等于85°且小于90°或大于90°且小于等于95°;所述待观测粉末测试段上覆盖有待观测粉末(4),且待观测粉末(4)覆盖区域的边缘与所述弯折段之间距离为5-8mm;步骤五:待步骤四中填充于模具内的冷镶嵌溶液(2)固化后进行脱模,然后打磨含有待观测粉末(4)的覆盖区域,获得用于扫描电镜观察的颗粒截面。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 哈尔滨工业大学 一种可重复用于电镜观察的微米级颗粒截面的制备方法
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