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申请/专利权人：株式会社电装

摘要：本发明涉及物体检测装置。检测物体的物体检测装置50具备：单个传感器装置10，具有照射照射光Lz的照射部100；以及具有能够接受包含反射光的光的多个受光要素201以面状排列而成的受光面S1，将受光面中的预先决定的像素范围内的受光要素的集合作为一像素，输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号的受光部200，并基于受光信号获取表示各像素中的反射光的受光强度的第一信息、表示各像素中的除反射光以外的其它光亦即背景光的受光强度的第二信息以及表示各像素中的到物体的距离的第三信息作为各像素的像素值；以及检测部30，利用各像素的像素值来检测物体。检测部将获取到的各像素的像素值所包含的第一至上述第三信息全部利用来检测物体。

主权项：1.一种物体检测装置，是检测物体的物体检测装置，具备单个传感器装置和检测部，上述单个传感器装置具有照射部和受光部，上述照射部照射照射光，上述受光部具有能够接受包含照射的上述照射光的反射光的光的多个受光要素以面状排列而成的受光面，将上述受光面中的预先决定的像素范围内的上述受光要素的集合作为一像素，上述受光部输出与各像素所包含的上述受光要素的受光状态对应的受光信号，上述传感器装置基于上述受光信号获取第一信息、第二信息以及第三信息作为各像素的像素值，其中，上述第一信息表示各像素中的上述反射光的受光强度，上述第二信息表示各像素中的除了上述反射光以外的其它光亦即背景光的受光强度，上述第三信息表示各像素中的到上述物体的距离，上述检测部利用各像素的上述像素值来检测上述物体，上述检测部将获取到的各像素的上述像素值所包含的上述第一信息至上述第三信息全部利用来检测上述物体，上述检测部通过对上述第一信息至上述第三信息和模型信息进行对照来检测上述物体，上述模型信息是存在上述物体的情况下的上述第一信息至上述第三信息的模型，上述检测部对上述第一信息和针对上述第一信息的上述模型信息进行对照，按照每个像素求出表示存在上述物体的似然性的第一似然，对上述第二信息和针对上述第二信息的上述模型信息进行对照，按照每个像素求出表示存在上述物体的似然性的第二似然，对上述第三信息和针对上述第三信息的上述模型信息进行对照，按照每个像素求出表示存在上述物体的似然性的第三似然，按照每个像素，对上述第一似然至上述第三似然分别进行加权并累计来求出总似然，并利用获得的上述总似然来检测上述物体。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社电装 物体检测装置