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申请/专利权人:武汉大学
摘要:本申请涉及一种氮化物外延结构及其制备方法、发光芯片及显示设备。本申请涉及半导体技术领域,所述氮化物外延结构包括依次设置的:衬底;AlN层以及GaN层;所述AlN层包括自靠近所述衬底向远离所述衬底方向依次设置的AlN基础层、第一AlN层、第二AlN层及第三AlN层;所述第一AlN层的VIII比为300~400;所述第二AlN层包括多个在12000sccm的NH3通量及多个在480sccm的NH3通量下交替生长的AlN层;所述第三AlN层的VIII比为60~180。第二AlN层包括多个在12000sccmNH3通量及多个在480sccmNH3通量下交替生长的AlN层,利用交替VIII比生长AlN,可以在生长无裂纹AlN薄膜,得到高质量的AlN外延。交替VIII比生长的AlN结构可以改变位错生长行为,形成倾斜的位错,从而释放应力,减小了AlN生长过程中晶圆开裂的风险。
主权项:1.一种氮化物外延结构,其特征在于,包括依次设置的:衬底;AlN层,包括自靠近所述衬底向远离所述衬底方向依次设置的AlN基础层、第一AlN层、第二AlN层及第三AlN层;以及GaN层;其中,所述第一AlN层的VIII比为300~400;所述第二AlN层包括多个在12000的sccmNH3通量及多个在480的sccmNH3通量下交替生长的AlN层;所述第三AlN层的VIII比为60~180。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 武汉大学 一种氮化物外延结构及其制备方法、发光芯片及显示设备
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