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申请/专利权人：长春工程学院
摘要：本发明属于检测设备技术领域，具体的说是一种非球面元件轮廓检测装置，包括工作台，所述工作台上安装有精密气浮回转台，所述精密气浮回转台上安装有放置台，所述工作台上安装有支架，所述支架上安装有精密气浮直线导轨，所述精密气浮直线导轨上安装有连接块，所述连接块内安装有探测杆与位移传感器；所述探测杆设置有多组，所述探测杆在连接件上依次排列形成探测阵列；本发明结构简单，可使用多组探测杆组成探测阵列同时对元件表面进行检测，并在探测杆沿元件表面母线移动时对元件表面相同点进行重复检测，从而降低检测误差，提高检测的准确性与检测速度。
主权项：1.一种非球面元件轮廓检测装置，包括工作台1，所述工作台1上安装有精密气浮回转台2，所述精密气浮回转台2上安装有放置台21，所述放置台21上用于安放待检测的非球面元件5，所述工作台1的左右两端对称安装有支架3，所述支架3上安装有精密气浮直线导轨31，所述精密气浮直线导轨31上安装有滑块32，所述滑块32上安装有连接块4，所述连接块4内安装有探测杆41与位移传感器43，所述探测杆41的下端与非球面元件5的表面接触；其特征在于：所述位移传感器43用于检测探测杆41在竖直方向上的位移距离，所述探测杆41设置有多组，所述探测杆41在连接块4内沿X轴方向依次排列形成一列的探测阵列，所述探测阵列中的探测杆41之间相互接触。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春工程学院 一种非球面元件轮廓检测装置
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