买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要:本发明属于光谱学技术领域,尤其涉及一种溶液吸光率谱测量装置及方法。装置包括连续谱白光光源、比色皿支架、可变光程组装比色皿、光纤光谱仪和上位机,可变光程组装比色皿内置有待测溶液,可变光程组装比色皿设置在比色皿支架内,连续谱白光光源发出的白光透过待测溶液后入射至光纤光谱仪内,光纤光谱仪与上位机相连,光纤光谱仪在上位机的控制下采集白光的光谱,上位机根据光谱计算待测溶液的吸光率谱。本发明适用于微量、溶剂化效应强和高透明溶液,装置的成本低,且能够实现一次性吸光率谱测量。
主权项:1.一种溶液吸光率谱测量装置,其特征在于:包括连续谱白光光源、比色皿支架、可变光程组装比色皿、光纤光谱仪和上位机,其中,所述可变光程组装比色皿内置有待测溶液,所述可变光程组装比色皿设置在所述比色皿支架内,所述连续谱白光光源发出的白光透过所述待测溶液后入射至光纤光谱仪内,所述光纤光谱仪与所述上位机相连,所述光纤光谱仪在所述上位机的控制下采集白光的光谱,所述上位机根据所述光谱计算所述待测溶液的吸光率谱。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 溶液吸光率谱测量装置及方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。