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申请/专利权人：南京微盟电子有限公司
摘要：本发明涉及一种可修调高精度低温漂电压基准源的批量测试方法及系统，属于芯片测试技术领域。本发明利用ATE测试设备的自动化测试原理，通过温度采集电路对全温度‑40℃至125℃数据进行采集，利用开关切换来同时精确测量大量芯片的电压基准，利用ATE测试机的运行程序实现测试数据的分析处理，得出芯片的电压基准数值和温漂系数后再利用修调技术进行对应的修调。最后第二次全温‑40℃至125℃测试得到准确的芯片电压基准高精度数值和温漂数值，为此类高精度低温漂电压基准源芯片的批量自动化测试提供了可行的测试方法。
主权项：1.一种可修调高精度低温漂电压基准源的批量测试方法，其特征在于，包括：1将批量的待测芯片置于高低温设备中，控制该高低温设备进行全范围温度变化，利用连接所述各待测芯片的批量芯片测试及修调板卡并利用ATE测试设备进行全温测试；2所述的ATE测试设备运行测试软件记录第一次全温测试数据，得到各待测芯片的初始精度和温漂系数；3在常温下，所述的ATE测试设备，根据所述的各待测芯片的初始精度和温漂系数，并通过所述的批量芯片测试及修调板卡，确认所述的各待测芯片的修调档位并进行修调；4重复所述的步骤1进行第二次全温测试；5所述的ATE测试设备运行测试软件记录所述第二次全温测试数据，得到各待测芯片的最终精度和温漂系数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南京微盟电子有限公司 可修调高精度低温漂电压基准源的批量测试方法及系统
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