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申请/专利权人：株式会社堀场先进技术
申请日：2024-07-10
公开（公告）日：2025-01-14
公开（公告）号：CN119310012A
专利技术分类：..防止光学装置的部件的沾污或光路的障碍[2006.01]
专利摘要：本发明提供测定计、测定装置、测定系统及测定方法。测定计具备：圆筒状的单元，其容纳测定流体；驱动机构，其使单元绕中心轴旋转；第一光源，其配置于单元的外侧，并向测定流体照射第一检查光；第二光源，其配置于单元的外侧且在单元的旋转方向上配置在与第一光源不同的位置，并且向测定流体照射第二检查光；检测器，其配置于单元的外侧，并对第一检查光的透过了测定流体的透过光和第二检查光的被测定流体散射了的散射光进行检测；以及清洗机构，其配置于单元的内侧，并与单元的内周面接触而进行清洗。
专利权项：1.一种测定计，其特征在于，具备：圆筒状的单元，其容纳测定流体；驱动机构，其使所述单元绕中心轴旋转；第一光源，其配置于所述单元的外侧，并向测定流体照射第一检查光；第二光源，其配置于所述单元的外侧且在所述单元的旋转方向上配置在与所述第一光源不同的位置，并且向测定流体照射第二检查光；检测器，其配置于所述单元的外侧，并对所述第一检查光的透过了测定流体的透过光和所述第二检查光的被测定流体散射了的散射光进行检测；以及清洗机构，其配置于所述单元的内侧，并与所述单元的内周面接触而进行清洗。
百度查询： 株式会社堀场先进技术 测定计、测定装置、测定系统及测定方法
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