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龙图腾网恭喜沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利大规模芯片验证方法、电子设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119294320B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411838553.4，技术领域涉及：G06F30/3308；该发明授权大规模芯片验证方法、电子设备和介质是由邹俊俊设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本大规模芯片验证方法、电子设备和介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种大规模芯片验证方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、构建目标测试用例；步骤S2、获取目标测试用例对应的测试用例组名称、验证配置信息名称和测试参数；步骤S3、从预设的验证配置信息列表中获取对应的目标验证配置信息；步骤S4、基于目标验证配置信息配置大规模芯片验证系统，生成目标大规模芯片验证系统；步骤S5、从预设的测试用例组库中获取对应的目标测试用例组；步骤S6、将目标测试用例对应的测试参数传递给目标测试用例组中的测试用例中，然后在目标大规模芯片验证系统上运行，对验证目标进行验证。本发明提高了大规模芯片验证的效率和稳定性，降低了大规模芯片验证的成本。

本发明授权大规模芯片验证方法、电子设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种大规模芯片验证方法，其特征在于，包括：步骤S1、基于预设的python数据结构构建目标测试用例，所述预设的python数据结构包括测试用例名称数据段、测试用例组名称数据段、验证配置信息名称数据段和测试参数数据段，所述测试用例名称数据段用于定义测试目标测试用例的名称，所述测试用例组名称数据段用于指定目标测试用例对应的测试用例组名称，测试用例组为用于验证芯片同一功能属性的多个测试用例组成的集合，所述验证配置信息名称数据段用于指定目标测试用例对应的验证配置信息名称，所述测试参数数据段用于定义目标测试用例对应的测试参数；步骤S2、解析所述目标测试用例，获取目标测试用例对应的测试用例组名称、目标测试用例对应的验证配置信息名称和目标测试用例对应的测试参数；步骤S3、基于目标测试用例对应的验证配置信息名称从预设的验证配置信息列表中获取对应的目标验证配置信息；步骤S4、基于目标验证配置信息配置大规模芯片验证系统，生成目标大规模芯片验证系统；所述步骤S4包括：步骤S41、基于目标验证配置信息将大规模芯片验证系统中验证目标所涉及的可配置模块设置为硬件模块，验证目标未涉及的可配置模块设置为行为级功能模型，生成目标大规模芯片验证系统；步骤S5、基于目标测试用例对应的测试用例组名称从预设的测试用例组库中获取对应的目标测试用例组；步骤S6、将目标测试用例对应的测试参数传递给目标测试用例组中的测试用例中，然后将目标测试用例组中的测试用例在目标大规模芯片验证系统上运行，对验证目标进行验证。

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