恭喜合肥晶合集成电路股份有限公司刘家昌获国家专利权
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龙图腾网恭喜合肥晶合集成电路股份有限公司申请的专利电阻值的测量设备及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119310350B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411845380.9，技术领域涉及：G01R27/14；该发明授权电阻值的测量设备及测量方法是由刘家昌;李响;汪小小;陈信全设计研发完成，并于2024-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本电阻值的测量设备及测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种电阻值的测量设备及测量方法。其中，所述电阻值的测量方法是采用算法Vn+1=（VDUTVSE）˙Vn来调节每次测量所需的母线电压。且基于母线电压的调节，所述被测器件的测量电压VSE也随之被不断迭代，并能够快速收敛至预设条件范围内，从而高效获取最接近所述目标电压VDUT的测量电压VSE，并据此计算出所述目标电压VDUT下的被测器件的电阻值。因此，本发明提供的所述方法不仅能够大幅度降低测量次数，提高测量效率和精度，还避免了因测量次数过多而对被测器件造成的损伤。
本发明授权电阻值的测量设备及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种电阻值的测量方法，其特征在于，包括：步骤一：提供一测量电路，且所述测量电路中接有被测器件；步骤二：向所述测量电路施加一母线电压，并测量所述被测器件两端的电压，以作为测量电压；步骤三：判断所述测量电压是否符合预设条件，如否，执行步骤四；如是，执行步骤五；步骤四：令Vn+1=（VDUTVSE）˙Vn，并将Vn+1作为步骤二中的所述母线电压，重复执行所述步骤二至所述步骤三，直至执行所述步骤五；其中，Vn为当前母线电压，Vn+1为下一次母线电压；VDUT为目标电压；VSE为当前测量电压；n为当前测量次数；步骤五：至少根据所述测量电压，计算出所述被测器件在所述目标电压下的电阻值；其中，所述预设条件为：VDUT-a˙|VDUT|≤VSE≤VDUT+a˙|VDUT|；且a为预设比例值。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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