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龙图腾网恭喜深圳蓝影医学科技股份有限公司申请的专利一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115064259B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210582533.X，技术领域涉及：G16H50/20；该发明授权一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统是由郭朋;郑杰;陈晶设计研发完成，并于2022-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供了一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统，所述方法包括：获取压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度数值和压迫力数值，压迫厚度数值为压迫盘到探测器的距离；依据压迫厚度数值和压迫力数值确定曝光参数；依据低能曝光参数和高能曝光参数对乳腺进行曝光，得到对应于低能曝光参数的低能图像和对应于高能曝光参数的高能图像；依据低能图像和高能图像生成所述乳腺的目标对比增强图像。通过碘造影剂的K缘效应，利用双能量摄影和图像减影技术，剔除了乳腺腺体中的正常组织，凸显病灶的形态、大小和数量，解决了常规乳腺X线摄影中因组织重叠而导致的漏诊问题，提高乳腺癌的检出率，操作简单、检查效率高、适用范围广，具有很大的临床应用价值。

本发明授权一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法，其特征在于，所述方法涉及乳腺X线机，所述乳腺X线机包括压迫盘和探测器，其中，待测乳腺安置于所述压迫盘与所述探测器之间，所述待测乳腺注射有碘造影剂，所述方法包括：获取所述压迫盘压迫所述乳腺时的压迫厚度数值和压迫力数值，所述压迫厚度数值为所述压迫盘到所述探测器的距离；依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定曝光参数；其中，所述曝光参数包括低能曝光参数和高能曝光参数；具体地，依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定所述低能曝光参数，依据所述低能曝光参数确定所述高能曝光参数；所述低能曝光参数包括低能辐射电压和低能辐射电流，所述高能曝光参数包括高能辐射电压和高能辐射电流；依据所述低能曝光参数和所述高能曝光参数对所述乳腺进行曝光，得到对应于所述低能曝光参数的低能图像和对应于所述高能曝光参数的高能图像；依据所述低能图像和所述高能图像生成所述乳腺的目标对比增强图像；其中，所述依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定所述低能曝光参数的步骤，包括：依据所述压迫厚度数值确定所述低能辐射电压；具体地，当所述压迫厚度数值小于20mm时，所述低能辐射电压为25kV；当所述压迫厚度数值为大于或等于80mm时，所述低能辐射电压为31kV；当所述压迫厚度数值为20～80mm时，所述低能辐射电压通过如下公式得出：VLow＝25+Thickness-1010式中，Thickness为所述压迫厚度数值；VLow为所述低能辐射电压；依据所述压迫力数值确定所述低能辐射电流；具体地，所述低能辐射电流通过如下公式得出：mAsLow＝30+Force×2式中，Force为所述压迫力数值；mAsLow为所述低能辐射电流；其中，所述依据所述低能曝光参数确定所述高能曝光参数的步骤，包括：依据所述低能辐射电压确定所述高能辐射电压；具体地，所述高能辐射电压通过如下公式得出：VHigh＝VLow+18式中，VHigh为所述高能辐射电压；依据所述低能辐射电流确定所述高能辐射电流；具体地，所述高能辐射电流通过如下公式得出：mAsHigh＝mAsLow×0.18式中，mAsHigh为所述高能辐射电流。

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