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龙图腾网恭喜中国科学院国家空间科学中心申请的专利一种无需质量关联的K/Ar法定年系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119000759B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411315349.4，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种无需质量关联的K/Ar法定年系统及方法是由王欢;曹阳;桑鹏;李保权设计研发完成，并于2024-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种无需质量关联的K/Ar法定年系统及方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种无需质量关联的KAr法定年系统及方法，所述系统包括：可控激发的X射线管，用于向待测样品发射X射线；X射线能谱仪，用于测量X射线能谱；控制及数据采集设备，用于控制X射线管辐射强度、X射线光子能量，以及获取存储X射线能谱仪的测试数据；X射线束出射方向与X射线能谱仪中心轴线方向夹角为90度，且在同一平面内，该平面与待测样品接收X射线照射的平面的法线相互平行。本申请的优势在于：能够实现定年样品K、Ar含量的同时测量；所述资源需求少、测量精度高、实施流程简便快捷，特别适合月球、小行星等真空环境下的地外天体样品定年。

本发明授权一种无需质量关联的K/Ar法定年系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种无需质量关联的KAr法定年方法，基于无需质量关联的KAr法定年系统实现，所述系统包括：可控激发的X射线管，用于向待测样品发射X射线；X射线能谱仪，用于测量X射线能谱；控制及数据采集设备，用于控制X射线管辐射强度、X射线光子能量，以及获取存储X射线能谱仪的测试数据；X射线束出射方向与X射线能谱仪中心轴线方向夹角为90度，且在同一平面内，该平面与待测样品接收X射线照射的平面的法线相互平行；待测样品接收X射线照射的平面的尺寸大于限束之后的X射线辐照尺寸；所述方法包括：步骤S1：对待测样品的待测表面进行打磨和抛光；步骤S2：X射线束出射方向与X射线能谱仪中心轴线方向保持90度夹角，将待测样品待测平面与X射线束照射方向垂直放置；调整X射线限束孔的大小、X射线的能量、X射线强度，以及样品的倾斜角度，获得K、Ar特征峰的最大动态范围；保持K、Ar特征峰的最大动态范围时所述系统的状态；步骤S3：从5kV至50kV离散改变X射线管的高压，并在每一种高压下离散改变X射线管的电子电流，变化范围从1μA到100μA；在每种高压和电子电流情况下，测试待测样品的X射线荧光光谱，得到K特征能量峰计数率Ck和Ar特征能量峰处背景计数率CAr，以及比值CkCAr；多次逆时针旋转待测样品，每次旋转角度小于5度，并在每一个角度位置重复执行上述步骤S3的测试过程；比较上述过程得到的比值CkCAr的范围，找出其最大值的测试条件，将所述系统的布局设置到最大比值的几何布局，并固定括X射线管的高压、电子电流、待测样品角度和限束孔大小的数值不变；启动X射线能谱仪，连续采集或者间断累积K的特征能量峰值计数在107以上；步骤S4：采用Ar和K特征能量峰附近的有限能道荧光谱解析方法分别对Ar和K的特征能量峰的峰下面积进行估计；选取目标拟合区域涵盖从Ar的特征能量峰前1keV到K的特征能量峰的上升沿；选取高斯函数作为目标拟合区域内涵盖的各个特征能量峰的模型；选取3至10阶低阶多项式作为背景荧光谱模型；将特征能量峰的模型与背景荧光谱模型的加和作为最终的数据模型；采用最小二乘法拟合模型参数；计算K和Ar特征能量峰的峰下面积，Ar和K特征能量峰的峰下面积的比例系数；测量已知年龄的地质标准样品，得出该标准样品的已知年龄与测得的Ar、K特征能量峰的峰下面积比值之间的比例系数k，利用该系数k与待测样品的Ar、K特征能量峰的峰下面积比，得到待测样品的年龄。

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