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龙图腾网恭喜中兴通讯股份有限公司申请的专利用于光模块的APD性能检测方法、装置、光网络及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114070389B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010756485.2，技术领域涉及：H04B10/073；该发明授权用于光模块的APD性能检测方法、装置、光网络及介质是由张正民;齐建设计研发完成，并于2020-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于光模块的APD性能检测方法、装置、光网络及介质在说明书摘要公布了：本发明实施例公开了一种用于光模块的雪崩光电二极管APD性能检测方法、装置、光网络及介质。该用于光模块的APD性能检测方法，适用于包括光模块和光网络单元ONU的光网络，所述方法包括：选取至少一个光网络单元标识ONUID作为检测ONUID；为所述检测ONUID分配带宽并且所述带宽使能；获取所述光模块对于所述检测ONUID的接收光功率；基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化，可以及时发现光模块的APD出现劣化，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

本发明授权用于光模块的APD性能检测方法、装置、光网络及介质在权利要求书中公布了：1.一种用于光模块的APD性能检测方法，适用于包括光模块的光网络，所述方法包括：选取至少一个光网络单元标识ONUID作为检测ONUID，至少一个所述ONUID包括以下至少一种：虚拟ONUID，空置的第一OUNID，已使用的第二ONUID；为所述检测ONUID分配带宽并且所述带宽使能；获取所述光模块对于所述检测ONUID的接收光功率，所述光模块是光线路终端OLT的光模块；基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化；所述基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化，具体包括：若所述接收光功率在预设的第一阈值范围内，则确定所述光模块的所述APD的性能劣化；或者，若所述接收光功率在预设的第二阈值范围内，则确定所述光模块的所述APD的性能未劣化；在所述检测ONUID为所述已使用的第二ONUID的情况下，所述为所述检测ONUID分配带宽并且所述带宽使能之前，所述方法还包括：在所述第二ONUID中选取所述检测ONUID；关闭所述检测ONUID的上行光信号。

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