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龙图腾网恭喜武汉高德智感科技有限公司申请的专利红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114627026B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210305485.X，技术领域涉及：G06T5/77；该发明授权红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质是由黄晟;付航;黄超设计研发完成，并于2022-03-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质，包括：对原始去横竖纹算法进行算法优化，获取优化后去横竖纹算法；通过ARM架构中的NEON运算单元根据所述优化后去横竖纹算法对待处理红外图像进行去除横竖纹计算。不仅通过优化原始去横竖纹算法，降低了原始去横竖纹算法中较影响计算速度的判断计算，提高了运算效率，而且通过ARM架构中的NEON运算单元执行去横竖纹算法，取代了原来需要的FPGA计算模块，降低了设备的生产成本。

本发明授权红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种红外图像去除横竖纹的方法，其特征在于，所述方法包括：对原始去横竖纹算法进行算法优化，获取优化后去横竖纹算法，所述对原始去横竖纹算法进行算法优化，包括：步骤201，通过预设的滤波模板和预设的灰度差算法对待处理红外图像进行滤波扩展处理，获取待处理红外图像的灰度差值，所述灰度差算法为：gray_diff[m][n]＝src[i][j]-src[m][n],m∈[i-1,i+1],n∈[j-1,j+1],i∈[0,h],j∈[0,w]；步骤202，根据所述灰度差值查表获取待处理像素点的权值，并根据预设的累计和公式获取所述待处理像素点的累计和，所述累计和公式为： 步骤203，根据所述累计和以及预设的加权和公式获取所述待处理像素点的加权和，所述加权和公式为： 步骤204，根据所述累计和、加权和以及预设的滤波求值公式，获取所述待处理像素点滤波后的值，所述滤波求值公式为：步骤205，根据预设的权值矩阵算法获取所述待处理像素点的权值矩阵，所述权值矩阵算法为：通过ARM架构中的NEON运算单元根据所述优化后去横竖纹算法对待处理红外图像进行去除横竖纹计算；其中，m、n表示窗口的索引，i、j表示当前图像的索引，h表示扩展后的所述待处理红外图像的高度，w表示扩展后的所述待处理红外图像的宽度，gray_weight_table表示高斯权重表，src表示当前像素点的值。

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