恭喜克洛纳测量技术有限公司T.弗里奇获国家专利权
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龙图腾网恭喜克洛纳测量技术有限公司申请的专利光谱仪和用于借助于光谱仪来分析光样本的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN110987180B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910949685.7，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权光谱仪和用于借助于光谱仪来分析光样本的方法是由T.弗里奇设计研发完成，并于2019-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本光谱仪和用于借助于光谱仪来分析光样本的方法在说明书摘要公布了：描述并示出了光谱仪（1），其包括至少一个光耦入元件（3）、能够变化的入口狭缝（4）、色散元件（6）、探测器元件（7）和控制和测评单元（8）。本任务提出了一种具有改进的测量特性的光谱仪，并且该任务通过以下方式得以解决，所述能够变化的入口狭缝（4）由包括多个像素的第一空间调制元件实现，其中，各个像素能够通过控制和测评单元彼此独立地定向，其中各个像素为了实现所述入口狭缝在运行中如此定向，使得从所述光耦入元件（3）入射的光的至少一部分被传导到所述色散元件（6）上。
本发明授权光谱仪和用于借助于光谱仪来分析光样本的方法在权利要求书中公布了：1.借助于光谱仪1分析光样本的方法2，其中所述光谱仪1具有至少一个光耦入元件3、能够变化的入口狭缝4、色散元件6、探测器元件7和控制和测评单元8， 其特征在于， 所述光耦入元件3被设计为由线性布置的光波导组成的光波导束， 所述能够变化的入口狭缝4由包括多个像素的第一空间调制元件实现，其中，各个像素能够通过所述控制和测评单元彼此独立地定向，其中各个像素为了实现所述入口狭缝而在运行中如此定向，使得从所述光耦入元件3入射的光的至少一部分被传导到所述色散元件6上， 所述入口狭缝的宽度根据测量之前和或测量期间的测量情况而变化， 所述第一空间调制器的像素如此定向，从而校正各个光波导与线性的布置的偏差， 待分析的光样本被所述色散元件6分解成其光谱分量， 将光样本的光谱分量成像到所述探测器元件7上，并且 所述控制和测评单元8确定出所述光样本的光谱。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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