中国科学院半导体研究所张建祥获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利载波调制深度和相位延迟的测量方法及载波解调系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115683180B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110847467.X，技术领域涉及：G01D5/26；该发明授权载波调制深度和相位延迟的测量方法及载波解调系统是由张建祥;张文涛;黄稳柱;李芳设计研发完成，并于2021-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本载波调制深度和相位延迟的测量方法及载波解调系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种载波调制深度和相位延迟的测量方法，包括：获得载波的干涉条纹；在至少3个预设倍频下，计算每一倍频对应的干涉条纹的频点能量，得到至少3个频点能量；根据所述至少3个频点能量计算所述载波的调制深度M和相位延迟本发明提供的测量方法可有效降低载波调制深度和载波相位延迟测量的运算复杂度。同时，本发明还有助于提高载波调制深度和载波相位延迟测量的实时性。
本发明授权载波调制深度和相位延迟的测量方法及载波解调系统在权利要求书中公布了：1.一种载波调制深度和相位延迟的测量方法，其特征在于，包括： 获得载波的干涉条纹； 基于贝塞尔函数将所述干涉条纹展开，根据展开的贝塞尔函数的阶数确定至少3个预设倍频； 在至少3个预设倍频下，采用至少3组并行的Goertzel算法计算每一预设倍频对应的干涉条纹的频点能量，得到至少3个频点能量； 根据计算所述载波的调制深度M；根据计算所述载波的相位延迟，其中，i为贝塞尔函数的阶数，Vi为干涉条纹i倍频的频点能量，Im（Vi）为复数Vi的虚部，Re（Vi）为复数Vi的实部。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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