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一种用于光纤折射率测量的准牢笼式马赫增德尔干涉仪 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第四十一研究所

申请日:2020-07-31

公开(公告)日:2020-11-17

公开(公告)号:CN111947886A

主分类号:G01M11/00(20060101)

分类号:G01M11/00(20060101);G01D5/353(20060101)

优先权:

专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态:2023.02.28#发明专利申请公布后的驳回;2020.12.04#实质审查的生效;2020.11.17#公开

摘要:本发明公开了一种用于光纤折射率测量的准牢笼式马赫增德尔干涉仪,将数字全息记录光路设置为马赫增德尔干涉光路,每个光学器件之间的相对位置均经过严格的数学计算和仿真模拟,确定好各光学器件的相对位置后,将分光棱镜、反射镜等光学器件嵌套到规格一致的立方体笼式结构中,立方体牢笼式结构装配到光学底座上预先加工好的沟槽,由专门的螺母固定。本发明技术方案结构更加紧凑稳定,用于集成到仪器内部;此外光学底座选用重量大、经过发黑工艺处理后的实心铸铁,有效实现仪器重心下移,保障整个光路系统的稳定性。本发明的离轴全息记录光路可以通过调节分光棱镜的角度灵活地改变物参光夹角,实现同轴全息与离轴全息记录之间的切换。

主权项:1.一种用于光纤折射率测量的准牢笼式马赫增德尔干涉仪,其特征在于,激光器1发出的激光通过衰减片2再通过分束棱镜3分为两路光束,其中一路光束作为参考光,由反射镜9反射后通过显微镜10到达分束棱镜7;另一路光束经由反射镜4后通过三维调节装置12,携带了光纤比色皿11中光纤的相位信息,作为物光波经由显微镜6放大,到达分束棱镜7后和参考光波发生相干干涉,将被测光纤相位以干涉条纹的形式记录在记录介质CCD8上;经CCD8数字离散化后的数据以数值矩阵的形式传输到程控计算机上,经过数值变换和数字还原得到光纤的相位信息,进而数值计算得到光纤的折射率分布。

全文数据:

权利要求:

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