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一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统 

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申请/专利权人:苏州浪潮智能科技有限公司

摘要:本发明提出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统,该方法首先获取待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;然后将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;最后,分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。本发明首先获取差分线上的过孔,进而判断差分线附近是否存在GND过孔。然后筛选出不符合设计规范的差分线过孔。本发明能够大大提高工程师PCB设计效率,缩短PCB设计时间。

主权项:1.一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出所述圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。

全文数据:一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统技术领域本发明属于PCB设计技术领域,特别涉及一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统。背景技术目前在市场上有多款PCB设计软件,Cadence作为业界应用最广泛的软件,不仅是它拥有强大的功能和多款相关软件做支撑,还因为它提供了开放式的二次开发接口和较为完善的开发语言库,用户可根据自身的需要进行开发。PCB设计规范中规定差分线在换层时,在差分线过孔附近必须有GND过孔伴随,以提供就近的回路,减小串扰。如果较近的地方没有GND过孔,信号传输质量要差很多。附图1是在PCB设计中差分线过孔附近GND过孔的示意图;现有的检查差分线过孔附近有没有GND过孔伴随的方法是通过人工检查,而在4路、2路大型服务器主板上,差分线过孔多大五六万对,人工检查费时费力。现有技术的缺点主要为人工检查需要投入大量时间、费时费力,人工检查效率低、而且容易有遗漏。发明内容本发明提出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统,大大提高工程师PCB设计效率,缩短PCB设计时间。为了实现上述目的,本发明提出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统,该方法包括以下步骤:获取待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出所述圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。进一步的,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的第一种方法为:S1:框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对,并将每个差分线对作为一个元素存入到数列A中;S2:遍历数列A中的差分线对,所述差分线对中包括第一差分线和第二差分线,所述第一差分线上的过孔放入数列List_A中,所述第二差分线上的过孔放入数列List_B中;S3:计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离,所述距离最小的过孔为数列List_A和数列List_B中相对应的过孔对,并将所述相对应的过孔对放入数列List_C中。进一步的,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的第二种方法为:获取差分线对中第一差分线的引脚和第二差分线引脚,并对第一差分线的引脚和第二差分线的引脚进行排序,第一差分线和第二差分线一共有4个引脚,所述4个引脚位于两个零件上,根据所述4个引脚所在的零件进行排序;通过path函数获取排列后引脚相对应的路径via和cline,所述路径对应的路径属性为via;所述cline对应的路径属性为segment,通过判断路径类型是不是via,如果类型不是via,就删掉路径cline,得到相对应的过孔对。进一步的,所述计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离的方法为,所述数列List_A中过孔的坐标为X,Y,所述数列List_B中过孔的坐标为P,Q;则所述过孔之间的距离为进一步的,以数列List_C中任一个过孔对的两个过孔分别圆心,以与所述过孔对相邻过孔对之间的间距D为半径画圆,通过判断过孔的net属性是否为GND,并筛选出两个圆内的GND过孔。进一步的,所述List_A为VIA_A_1、VIA_B_1……VIA_N_1;所述List_B为VIA_A_2、VIA_B_2……VIA_N_2;所述List_C为‘VIA_A_1VIA_A_2‘VIA_B_1VIA_B_2……‘VIA_N_1VIA_N_2;以VIA_A_1过孔的坐标X1,Y1作为圆心,D为半径画第一圆,;以VIA_A_2过孔的坐标X2,Y2作为圆心,D为半径画第二圆;并分别筛选第一圆中的GND过孔和第二圆中的GND过孔;合并第一圆的GND过孔和第二圆中的GND过孔;并去掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。进一步的,采用length函数判断所述得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,则所述差分线过孔附近设置GND过孔。一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统,包括获取差分线对模块、获取过孔对模块和获取GND过孔模块;所述获取差分线对模块用于框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;所述获取过孔对模块用于将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;所述获取GND过孔模块用于分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出所述圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。进一步的,还包括判断模块;所述判断模块采用length函数判断所述得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,如果大于等于2,则所述差分线过孔附近设置GND过孔。进一步的,所述获取过孔对模块包括第一获取过孔对模块和第二获取过孔对模块;所述第一获取过孔对模块用于框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对,并将每个差分线对作为一个元素存入到数列A中;遍历数列A中的差分线对,所述差分线对中包括第一差分线和第二差分线,所述第一差分线上的过孔放入数列List_A中,所述第二差分线上的过孔放入数列List_B中;计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离,所述距离最小的过孔为数列List_A和数列List_B中相对应的过孔对,并将所述相对应的过孔对放入数列List_C中;所述第二获取过孔对模块用于获取差分线对中第一差分线的引脚和第二差分线引脚,并对第一差分线的引脚和第二差分线的引脚进行排序,第一差分线和第二差分线一共有4个引脚,所述4个引脚位于两个零件上,根据所述4个引脚所在的零件进行排序;通过path函数获取排列后引脚相对应的路径via和cline,所述路径对应的路径属性为via;所述cline对应的路径属性为segment,通过判断路径类型是不是via,如果类型不是via,就删掉路径cline,得到相对应的过孔对。发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果,而不是发明所有的全部效果,上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果:本发明实施例提出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统,该方法首先获取待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;然后将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;最后,分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。其中,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的方法,可以选择采用数列记录过孔对的方式将差分线中的过孔对应起来,也可以采用获取差分线的引脚,并对差分线上引脚所在的零件进行排序。采用length函数判断得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,则差分线过孔附近设置GND过孔。本发明首先获取差分线上的过孔,进而判断差分线附近是否存在GND过孔。然后筛选出不符合设计规范的差分线过孔。本发明能够大大提高工程师PCB设计效率,缩短PCB设计时间。附图说明附图1是在PCB设计中差分线过孔附近GND过孔的示意图;附图2是本发明实施例1提出的在PCB设计中差分线对上面过孔对的示意图;附图3是本发明实施例1提出的差分线附近筛选GND过孔的示意图;附图4是本发明实施例1提出的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法流程图;附图5是本发明实施例1提出的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统示意图。具体实施方式下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。在本发明的描述中,需要理解的是,术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。实施例1本发明提出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统,该方法包括,首先采用axlDBGetDesign函数获取待检查差分线,通过diffpair函数groupmembers,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对。然后,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对。将将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的第一种方法为:S1:框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对,并将每个差分线对作为一个元素存入到数列A中;S2:遍历数列A中的差分线对,差分线对中包括第一差分线和第二差分线,第一差分线上的过孔放入数列List_A中,第二差分线上的过孔放入数列List_B中;附图2是本发明实施例1提出的在PCB设计中差分线对上面过孔对的示意图;S3:计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离,距离最小的过孔为数列List_A和数列List_B中相对应的过孔对,并将相对应的过孔对放入数列List_C中;计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离的方法为,数列List_A中过孔的坐标为X,Y,数列List_B中过孔的坐标为P,Q;则过孔之间的距离为分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。附图3是本发明实施例1提出的差分线附近筛选GND过孔的示意图;以数列List_C中任一个过孔对的两个过孔分别圆心,以与过孔对相邻过孔对之间的间距D为半径画圆,通过判断过孔的net属性是否为GND,并筛选出两个圆内的GND过孔。其中List_A数列为VIA_A_1、VIA_B_1……VIA_N_1;List_B数列为VIA_A_2、VIA_B_2……VIA_N_2;则List_C数列为‘VIA_A_1VIA_A_2‘VIA_B_1VIA_B_2……‘VIA_N_1VIA_N_2。以VIA_A_1过孔的坐标X1,Y1作为圆心,D为半径画第一圆;以VIA_A_2过孔的坐标X2,Y2作为圆心,D为半径画第二圆;并分别筛选第一圆中的GND过孔和第二圆中的GND过孔;合并第一圆的GND过孔和第二圆中的GND过孔;并去掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。采用length函数判断得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,则差分线过孔附近设置GND过孔。如果小于2,则不符合设计规范。将将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的第二种方法可采用获取差分线对中第一差分线的引脚和第二差分线引脚,并对第一差分线的引脚和第二差分线的引脚进行排序,第一差分线和第二差分线一共有4个引脚,4个引脚位于两个零件上,根据4个引脚所在的零件进行排序;通过path函数获取排列后引脚相对应的路径via和cline,所述路径对应的路径属性为via;所述cline对应的路径属性为segment,通过判断路径类型是不是via,如果类型不是via,就删掉路径cline,得到相对应的过孔对。然后分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。采用length函数判断得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,则差分线过孔附近设置GND过孔。如果小于2,则不符合设计规范。如图4给出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法流程图;在步骤S401中,获取待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;在步骤S402中,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;在步骤S403中,分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。本发明还提出了一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统,附图5是本发明实施例1提出的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统示意图。包括获取差分线对模块、获取过孔对模块、获取GND过孔模块和判断模块获取差分线对模块用于框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;获取过孔对模块用于将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;获取GND过孔模块用于分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量;判断模块采用length函数判断得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,如果大于等于2,则差分线过孔附近设置GND过孔。获取过孔对模块包括第一获取过孔对模块和第二获取过孔对模块;第一获取过孔对模块用于框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对,并将每个差分线对作为一个元素存入到数列A中;遍历数列A中的差分线对,差分线对中包括第一差分线和第二差分线,第一差分线上的过孔放入数列List_A中,第二差分线上的过孔放入数列List_B中;计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离,距离最小的过孔为数列List_A和数列List_B中相对应的过孔对,并将相对应的过孔对放入数列List_C中;第二获取过孔对模块用于获取差分线对中第一差分线的引脚和第二差分线引脚,并对第一差分线的引脚和第二差分线的引脚进行排序,第一差分线和第二差分线一共有4个引脚,4个引脚位于两个零件上,根据所4个引脚所在的零件进行排序;通过path函数获取排列后引脚相对应的路径via和cline,所述路径对应的路径属性为via;所述cline对应的路径属性为segment,通过判断路径类型是不是via,如果类型不是via,就删掉路径cline,得到相对应的过孔对。以上内容仅仅是对本发明的结构所作的举例和说明,所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围,均应属于本发明的保护范围。

权利要求:1.一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出所述圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。2.根据权利要求1所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的第一种方法为:S1:框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对,并将每个差分线对作为一个元素存入到数列A中;S2:遍历数列A中的差分线对,所述差分线对中包括第一差分线和第二差分线,所述第一差分线上的过孔放入数列List_A中,所述第二差分线上的过孔放入数列List_B中;S3:计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离,所述距离最小的过孔为数列List_A和数列List_B中相对应的过孔对,并将所述相对应的过孔对放入数列List_C中。3.根据权利要求1所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对的第二种方法为:获取差分线对中第一差分线的引脚和第二差分线引脚,并对第一差分线的引脚和第二差分线的引脚进行排序,第一差分线和第二差分线一共有4个引脚,所述4个引脚位于两个零件上,根据所述4个引脚所在的零件进行排序;通过path函数获取排列后引脚相对应的路径via和cline,所述路径对应的路径属性为via;所述cline对应的路径属性为segment,通过判断路径类型是不是via,如果类型不是via,就删掉路径cline,得到相对应的过孔对。4.根据权利要求2所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,所述计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离的方法为,所述数列List_A中过孔的坐标为X,Y,所述数列List_B中过孔的坐标为P,Q;则所述过孔之间的距离为5.根据权利要求2所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,以数列List_C中任一个过孔对的两个过孔分别圆心,以与所述过孔对相邻过孔对之间的间距D为半径画圆,通过判断过孔的net属性是否为GND,并筛选出两个圆内的GND过孔。6.根据权利要求5所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,所述List_A为VIA_A_1、VIA_B_1……VIA_N_1;所述List_B为VIA_A_2、VIA_B_2……VIA_N_2;所述List_C为‘VIA_A_1VIA_A_2‘VIA_B_1VIA_B_2……‘VIA_N_1VIA_N_2;以VIA_A_1过孔的坐标X1,Y1作为圆心,D为半径画第一圆;以VIA_A_2过孔的坐标X2,Y2作为圆心,D为半径画第二圆;并分别筛选第一圆中的GND过孔和第二圆中的GND过孔;合并第一圆的GND过孔和第二圆中的GND过孔;并去掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。7.根据权利要求3或6所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法,其特征在于,采用length函数判断所述得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,则所述差分线过孔附近设置GND过孔。8.一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统,其特征在于,包括获取差分线对模块、获取过孔对模块和获取GND过孔模块;所述获取差分线对模块用于框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对;所述获取过孔对模块用于将差分线对中第一差分线和第二差分线中的过孔对应起来,作为过孔对;所述获取GND过孔模块用于分别以差分线对中任意过孔对的其中一个过孔为圆心,以与相邻过孔对之间的间距为半径画圆,筛选出所述圆中属性为GND的过孔,并采用函数unique删除掉重复的GND过孔,得到差分线附近GND过孔的数量。9.根据权利要求8所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统,其特征在于,还包括判断模块;所述判断模块采用length函数判断所述得到差分线附近GND过孔的数量是否大于等于2,如果大于等于2,则所述差分线过孔附近设置GND过孔。10.根据权利要求8所述的一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的系统,其特征在于,所述获取过孔对模块包括第一获取过孔对模块和第二获取过孔对模块;所述第一获取过孔对模块用于框选待检查的差分线,将待检查的差分线中两个ID相同的差分线,作为差分线对,并将每个差分线对作为一个元素存入到数列A中;遍历数列A中的差分线对,所述差分线对中包括第一差分线和第二差分线,所述第一差分线上的过孔放入数列List_A中,所述第二差分线上的过孔放入数列List_B中;计算数列List_A和数列List_B中过孔之间的距离,所述距离最小的过孔为数列List_A和数列List_B中相对应的过孔对,并将所述相对应的过孔对放入数列List_C中;所述第二获取过孔对模块用于获取差分线对中第一差分线的引脚和第二差分线引脚,并对第一差分线的引脚和第二差分线的引脚进行排序,第一差分线和第二差分线一共有4个引脚,所述4个引脚位于两个零件上,根据所述4个引脚所在的零件进行排序;通过path函数获取排列后引脚相对应的路径via和cline,所述路径对应的路径属性为via;所述cline对应的路径属性为segment,通过判断路径类型是不是via,如果类型不是via,就删掉路径cline,得到相对应的过孔对。

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