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申请/专利权人：珠海昇生微电子有限责任公司
摘要：本发明涉及一种基于FPGA芯片实现的scanchain电路的测试系统及方法，所述测试系统集成于FPGA芯片上，包括：数据解析单元、存储单元、时序发生单元、控制单元和结果输出单元；方法包括S1，将原始scanchain电路的激励信号和原始scanchain电路的预期输出信号进行数据解析和编码，编码后经过scanchain电路进行激励和存储，并对数据解析单元解析后scanchain电路的预期输出信号进行编码并存储；根据测试scanchain电路的时序波形对经过编码后的scanchain电路的激励信号进行采样，并将采样数据和存储的预期输出信号进行数据比对；输出结果。本发明实现了在小型FPGA平台上对scanchain电路的测试，实现方案价格便宜，测试速度快。
主权项：1.一种基于FPGA芯片实现的scanchain电路的测试系统，其特征在于，所述测试系统集成于FPGA芯片上，包括：数据解析单元、存储单元、时序发生单元、控制单元和结果输出单元；所述数据解析单元，用于将仿真生成原始scanchain电路的激励信号和原始scanchain电路的预期输出信号进行数据解析；所述存储单元，对数据解析单元解析的用于scanchain电路的激励信号进行编码，确定待检测点后经过scanchain电路进行激励，并存储激励后的输出信号，还用于对数据解析单元解析后scanchain电路的预期输出信号进行编码并存储；所述时序发生单元，用于发出测试scanchain电路的时序波形；所述控制单元，用于按照scanchain电路的检测要求，针对激励的输出信号在时序发生单元提供的采样时序下采样，并将采样数据和存储的预期输出信号进行数据比对；所述结果输出单元，用于输出控制单元比较的结果，当比对结果不一致时，则上报错误，当比对结果正确，则继续下一个周期的检测，直到经过scanchain电路后的激励信号完全检测完毕，输出比对结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 珠海昇生微电子有限责任公司 基于FPGA芯片实现的scan chain电路的测试系统及方法
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