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申请/专利权人：珠海昇生微电子有限责任公司

摘要：本发明涉及一种基于多块FPGA进行ICscanchain电路测试的方法，采用级联扩容的思想，解决单个FPGA作为SCANCHAINpattern的存储实体时存储资源不足的问题，通过自定义的FPGA间的通信握手方式，下一级FPGA可以知道上一级FPGA已完成测试，需要启动本级FPGA工作，并在本级FPGA测试完毕后，通知再下一级FPGA开始工作，本发明采用串联链工作原理，实现了庞大的SCANCHAIN测试向量测试。

主权项：1.一种基于多块FPGA进行ICscanchain电路测试的方法，其特征在于，所述方法包括：第一台FPGA设备向待测试设备的ICscanchain电路发出测试请求；待测试设备的ICscanchain电路响应该测试请求后，第一台FPGA设备进行测试向量的测试，待第一台FPGA设备的测试向量测试完毕时，第一台FPGA设备发送启动信号给第二台FPGA设备，第二台FPGA设备响应并返回握手成功信号给第一台FPGA设备，同时，第二台FPGA设备通过第一台FPGA设备发送测试向量给待测试设备的ICscanchain电路继续测试；待第二台FPGA设备的测试向量测试完毕时，向第三台FPGA设备发送启动信号，第三台FPGA设备响应并返回握手成功信号给第二台FPGA设备，第三台FPGA设备依次通过第二、第一台FPGA设备发送测试向量给待测试设备的ICscanchain电路，继续测试，以此类推，直到第N台FPGA设备的测试向量测试完毕，其中，N的取值由待测试设备的ICscanchain电路的大小决定；其中，FPGA设备进行测试向量采用的测试方法包括基于FPGA芯片实现的scanchain电路的测试系统，测试系统集成于FPGA芯片上，包括：第一信号收发单元、数据解析单元、存储单元、时序发生单元、控制单元、测试向量判断单元、结果输出单元和第二信号收发单元；第一信号收发单元，用于接收待测IC的scanchain电路的测试开始信号或接收前级FPGA设备的输入开启信号，还用于返回下级FPGA设备的握手成功信号给上级FPGA设备，还用于接收仿真生成的原始scanchain电路的激励信号和原始scanchain电路的预期输出信号；所述数据解析单元，用于将仿真生成的原始scanchain电路的激励信号和原始scanchain电路的预期输出信号进行数据解析；所述存储单元，对数据解析单元解析的用于scanchain电路的激励信号进行编码，确定待检测点后经过scanchain电路进行激励，并存储激励后的输出信号，还用于对数据解析单元解析后scanchain电路的预期输出信号进行编码并存储；所述时序发生单元，用于发出测试scanchain电路的时序波形；所述控制单元，用于按照scanchain电路的检测要求，针对激励的输出信号在时序发生单元提供的采样时序下采样，并将采样数据和存储的预期输出信号进行数据比对；所述测试向量判断单元，用于检测本级FPGA设备测试向量是否测试完毕；所述第二信号收发单元，用于当本级FPGA设备测试向量检测完毕后发送完毕信号给下级FPGA设备，使下级FPGA设备开启，还用于返回下级FPGA设备的握手成功信号给上级FPGA设备；所述结果输出单元，用于输出控制单元比较的结果，当比对结果不一致时，则上报错误，当比对结果正确，输出比对结果。

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