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申请/专利权人:北京理工大学
摘要:本发明公开了窄线宽光源OFDR系统相干衰落抑制效果评估方法,包括:对窄线宽光源进行参数调控,仿真激光器携带的本征相位噪声;对相干衰落噪声的抑制方法进行参数调控,定量控制抑制方法的实现效果;一维光纤OFDR系统建模,利用外差法,对后向散射光与本振光的拍频解调,获取所需测量结果;生成测量结果的定量评估结果,完成OFDR系统的相干衰落抑制仿真及效果评估。本发明通过自主设置OFDR系统和抑制方法的参数,得到测量结果受非理想光源相干衰落噪声影响的变化规律,体现相干衰落噪声的统计特性及其抑制效果,评估结果更为精确全面,能够多变量对比、多角度分析,为有关理论研究与实际应用中的系统优化与设计提供帮助。
主权项:1.窄线宽光源OFDR系统相干衰落抑制效果评估方法,其特征在于,包括:对窄线宽光源进行参数调控,仿真激光器携带的本征相位噪声;对相干衰落噪声的抑制方法进行参数调控,定量控制抑制方法的实现效果;基于所述本征相位噪声和调控后的参数,进行一维光纤OFDR系统建模,建立待评估OFDR系统模型,基于所述待评估OFDR系统模型仿真外差法测量,通过对后向散射光与本振光的拍频解调,获取所需测量结果;对所述测量结果进行定量评估,完成OFDR系统的相干衰落抑制及其效果评估。
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权利要求:
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