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【发明公布】晶体层叠构造体、半导体装置及晶体层叠构造体的制造方法_三菱电机株式会社_202180101847.7 

申请/专利权人:三菱电机株式会社

申请日:2021-09-03

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117941041A

主分类号:H01L21/365

分类号:H01L21/365

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:目的在于提供一种能够提高器件特性的技术。晶体层叠构造体具备具有第1主面的Ga2O3单晶体基板。另外,晶体层叠构造体具备设置于Ga2O3单晶体基板的第1主面上并在与Ga2O3单晶体基板相反的一侧具有第2主面的作为外延生长层的Ga2O3单晶体层。Ga2O3单晶体基板的第1主面的面取向是011面。另外,Ga2O3单晶体层的第2主面是011面。

主权项:1.一种晶体层叠构造体,具备:Ga2O3单晶体基板,具有第1主面;以及作为外延生长层的Ga2O3单晶体层,设置于所述Ga2O3单晶体基板的所述第1主面上,在与所述Ga2O3单晶体基板相反的一侧具有第2主面,所述Ga2O3单晶体基板的所述第1主面以及所述Ga2O3单晶体层的所述第2主面各自的面取向是011面。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三菱电机株式会社 晶体层叠构造体、半导体装置及晶体层叠构造体的制造方法

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