申请/专利权人：深圳市致诚达科技有限公司

申请日：2023-02-01

公开（公告）日：2024-05-10

公开（公告）号：CN116298863B

主分类号：G01R31/34

分类号：G01R31/34;G05B19/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.05.10#授权;2023.07.11#实质审查的生效;2023.06.23#公开

摘要：本发明提供了一种BLDC电机生产线快速检验系统及控制方法，包括：自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，智能化大批量获取BLDC电机检验结果。

主权项：1.一种BLDC电机生产线快速检验系统，其特征在于，包括：自巡触点规模检验探针阵分系统，通过大规模自巡触点检验探针阵对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验；检测探针触压触检驱动分系统，通过集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；触检驱动自动控制分系统，根据触检驱动检验控制数据进行自适应逻辑控制编程，实现触检驱动自适应逻辑控制；BLDC电机生产线智能管控分系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行生产交互快速检验；并通过全角度影像实景合成管控BLDC电机生产全过程，快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；触检驱动自动控制分系统，包括：识别触点基础框架子系统，通过机器视觉识别触点位置，获取机器识别触点位置数据；设置逻辑控制编程基础框架；自适应逻辑编程子系统，将触检驱动检验控制数据输入逻辑控制编程基础框架，进行自适应逻辑控制编程；逻辑控制验证子系统，根据机器识别触点位置数据，对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证，实现触检驱动自适应逻辑控制；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证包括：通过机器视觉识别触点位置，当触点位置识别后，集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，对大批量异型触点进行机器视觉识别触点位置的大规模检验自动探巡；通过霍尔效应探测探针尖端与触点的接触状态，通过双反热电制冷制热调整大规模检验自巡触点探针阵的探针与触点接触精准触压；当探针与触点触压超过标准触压时，采用正向热电制冷通过热传导收缩探针尖端体积；当探针与触点触压未达到标准触压时，采用反向热电制热通过热传导膨胀探针尖端体积；对自适应逻辑控制编程进行触检驱动自适应逻辑控制验证并保持探针与触点触压稳定；检测探针触压触检驱动分系统，包括：触点探针排布路径子系统，根据大规模自巡触点检验探针阵的触点探针阵排布，设置触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径；集散排布快检路径子系统，触点位置探针集散排布按照触点位置集中分散度进行探针集散排布；根据触点位置探针集散排布，通过快速检验最短路径设置触点位置探针移动路径；探针阵触手驱动子系统，根据触点位置探针集散排布及触点位置探针移动路径，设置集散排布触点探针阵触手驱动大规模检验自巡触点探针阵，并获取触检驱动检验控制数据；计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值： 其中，ZCNLF表示大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，Rhcl表示正极自巡触点检验探针电阻值，Dcl表示探针触点接触位置x轴向数量，Mcn表示自巡触点检验探针总数量，Ecl表示探针触点接触位置z轴向数量，Fcn表示探针触点接触位置Y轴向数量，Rhdk表示负极自巡触点检验探针电阻值；通过计算大规模自巡触点检验探针阵探针接触电阻值，可以快速进行BLDC电机检验系统电阻误差补偿及反电动势误差降低、BLDC电机检验霍尔特性电平更准确及BLDC电机检验相位差的检验精度更高；BLDC电机生产线智能管控分系统，包括：生产线前端数据接口子系统，设置BLDC电机生产线数据接口，接收BLDC电机生产线前端数据；数据交互快速检验子系统，根据触检驱动自适应逻辑控制数据及BLDC电机生产线前端数据，进行逻辑控制与电机生产线数据交互快速检验；BLDC电机智能实景管控子系统，设置全角度BLDC电机生产线摄录组，通过全角度摄录影像实景合成管控BLDC电机生产全过程实景，并快速生成BLDC电机检验参数，智能化大批量获取BLDC电机检验结果；自巡触点规模检验探针阵分系统，包括：BLDC电机部件触点数据子系统，搜集BLDC电机生产历史过程中部件需检验触点数据，获取BLDC电机过程部件需检验触点数据；自巡触点探针设置子系统，根据BLDC电机生产部件需检验触点数据，设置大规模自巡触点检验探针阵；大规模自巡触点检验探针阵包括：定子绕线固化引线触点检验探针、转子电性检验触点检验探针、换向焊脚触点检验探针、转轴间隙触点检验探针及整机端子综合检验触点检验探针；探针自巡触点对接子系统，通过大规模自巡触点检验探针阵中的探针对接BLDC电机生产部件需检验触点，对BLDC电机生产过程中的触点进行自巡触点探针阵大规模快速检验。

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