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一种考古遗址中人为扰动地层的显微识别方法 

申请/专利权人:成都理工大学

申请日:2024-02-01

公开(公告)日:2024-05-14

公开(公告)号:CN118032755A

主分类号:G01N21/84

分类号:G01N21/84;G01N1/28

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.31#实质审查的生效;2024.05.14#公开

摘要:本发明提出一种考古遗址中人为扰动地层的显微识别方法,包括步骤一,确定所研究的地层,并在所研究的地层中,选取合适的位置,采集定向薄片磨制样品;步骤二,根据步骤一中采集的薄片磨制样品,制作样品的定向薄片;步骤三,根据步骤二中得到的样品定向薄片,对定向薄片中的样品进行微形态观察;步骤四,根据步骤三中观察的微形态,进行综合分析,判别研究地层是自然沉积地层还是人为扰动地层共计四个步骤,本发明基于地层样品的薄片显微特征研究,可以较为经济、有效、直观的判别所研究的地层是自然沉积层,还是人为扰动地层,并且对于人为扰动地层还可以进一步判别古人对地层扰动的强度和深度。

主权项:1.一种考古遗址中人为扰动地层的显微识别方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一:确定所研究的地层,并在所研究的地层中,选取合适的位置,采集定向薄片磨制样品;步骤二:根据步骤一中采集的薄片磨制样品,制作样品的定向薄片;步骤三:根据步骤二中得到的样品定向薄片,对定向薄片中的样品进行微形态观察;步骤四:根据步骤三中观察的微形态,进行综合分析,判别研究地层是自然沉积地层还是人为扰动地层。

全文数据:

权利要求:

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