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申请/专利权人：本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请日：2022-11-29
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118150975A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.07#公开
摘要：本申请涉及一种基于半导体量子芯片的扫库伦峰实验的测试方法及系统，应用于量子计算机技术领域，其包括响应实验指令，根据所述实验指令调取并显示对应的实验界面；在接收到实验参数时，根据所述实验参数确定控制参数，并将所述控制参数发送至对应的仪器，以使仪器根据所述控制参数控制芯片输出实验数据；持续接收所述实验数据，直至所述实验数据达到预设的数据范围，终止实验，并保存实验数据。本申请根据实验参数以及数据范围控制实验的进程，进而便于用户通过系统控制多种实验仪器以及输入实验参数，以便于用户对半导体量子芯片进行实验。
主权项：1.一种基于半导体量子芯片的扫库伦峰实验的测试方法，其特征在于，所述方法包括：响应实验指令，根据所述实验指令调取并显示对应的实验界面；在接收到实验参数时，根据所述实验参数确定控制参数，并将所述控制参数发送至对应的仪器，以使仪器根据所述控制参数控制芯片输出实验数据；持续接收所述实验数据，直至所述实验数据达到预设的数据范围，终止实验，并保存实验数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 基于半导体量子芯片的扫库伦峰实验的测试方法及系统
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