申请/专利权人：英国质谱公司

申请日：2019-05-03

公开（公告）日：2024-06-07

公开（公告）号：CN112106172B

主分类号：H01J49/40

分类号：H01J49/40

优先权：["20180510 GB 1807605.9"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.07#授权;2021.01.05#实质审查的生效;2020.12.18#公开

摘要：一种质量光谱仪包括：多反射飞行时间MRTOF质量分析器或质量分离器，其具有两个无栅离子镜2，所述无栅离子镜在第一维度Z维度上伸长且被配置成当离子在所述第一维度上行进时在第二正交维度X维度上多次反射离子；所述光谱仪被配置成按以下模式操作：i用于与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有第一相互作用速率的离子的第一模式，使得所述离子在所述离子镜2之间被反射第一次数；以及ii用于与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有较高的第二相互作用速率的离子的第二模式，使得离子在所述离子镜2之间被反射较少的第二次数。

主权项：1.一种质量光谱仪，包括：多反射飞行时间MRTOF质量分析器或质量分离器，所述多反射飞行时间MRTOF质量分析器或质量分离器具有两个无栅离子镜，所述无栅离子镜在第一维度上伸长且被配置成当离子在所述第一维度上行进时在正交的第二维度上多次反射所述离子；控制器，所述控制器被配置成按以下模式操作所述光谱仪：i第一模式，用于对与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有第一相互作用速率的离子进行质量分析或质量分离，其中控制在通过所述质量分析器或分离器的所述第一维度上和或所述无栅离子镜之间的第二维度上的离子速度，使得所述离子在所述无栅离子镜之间被反射第一次数；和ii第二模式，用于对与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有较高的第二相互作用速率的离子进行质量分析或质量分离，其中控制在通过所述质量分析器或分离器的所述第一维度上和或所述无栅离子镜之间的第二维度上的所述离子速度，使得所述离子在所述无栅离子镜之间被反射少于所述第一次数的第二次数；和用于向所述MRTOF质量分析器或质量分离器提供离子的装置，根据确定所述离子与所述背景气体分子的相互作用速率的物理化学性质分离所述离子，其中所述控制器被配置成在所述第一模式下操作所述光谱仪，同时将具有所述物理化学性质的第一范围值的离子传输到所述MRTOF质量分析器或质量分离器中；并且被配置成在所述第二模式下操作所述光谱仪，同时将具有所述物理化学性质的第二范围值的离子传输到所述MRTOF质量分析器或质量分离器中。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 英国质谱公司 多反射飞行时间质量分析器

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD