龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
申请/专利权人：深圳康盈半导体科技有限公司
申请日：2024-03-11
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN118170605A
主分类号：G06F11/30
分类号：G06F11/30
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.11#公开
摘要：本发明属于内存储存测试技术领域，尤其为一种Memtester测试算法，包括原测试原理为读取内存容量，通过切断成2半的方式，对两段同时进行读写，然后对两段的数据进行比较，判断是否一致，一致则读写有效，相反则读写失败，数据丢失；由于内存内部是由二极管和电容组成，电容里面存储的单元只有0和1，出于严谨性的考虑，当两段同时丢数据的时候，则比对判断的时候还是会通过，为了避免此类情况，会增加同电荷地址比对，即多个地址3个以上的数据进行比对，保证所有的数据都是正确的。本发明通过针对存储封装技术的日益成熟，为了筛选出一些复杂货不容易暴漏的失效内存，对测试算法进行改进，增加内存芯片测试覆盖率，保证产品品质。
主权项：1.一种Memtester测试算法，包括以下技术方案：原测试原理为读取内存容量，通过切断成2半的方式，对两段同时进行读写，然后对两段的数据进行比较，判断是否一致，一致则读写有效，相反则读写失败，数据丢失；由于内存内部是由二极管和电容组成，电容里面存储的单元只有0和1，出于严谨性的考虑，当两段同时丢数据的时候，则比对判断的时候还是会通过，为了避免此类情况，会增加同电荷地址比对，即多个地址3个以上的数据进行比对，保证所有的数据都是正确的；增加内存切断方式，由原来的2段切为4段，对4段同时进行读写，同时对4段的数据进行比对，保证数据对比的可靠性；增加写入数据0和1的排列方式，极大限度增加耦合故障固定故障转换故障等失效故障模型的检测强度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳康盈半导体科技有限公司 一种Memtester测试算法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号