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申请/专利权人：立讯精密科技(南京)有限公司
申请日：2023-11-21
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN221177806U
主分类号：H04N17/00
分类号：H04N17/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.18#授权
摘要：本申请涉及一种测试系统，测试系统包括支架、多个测试卡和多个变距组件，多个所述测试卡间隔且并排设置；多个所述变距组件与多个所述测试卡一一对应地设置，所述测试卡与所述支架通过所述变距组件可移动地相连，所述变距组件用于调节与其对应的所述测试卡与所述摄像模组之间的距离。由此，变距组件可以调节测试卡与摄像模组之间的距离，以使多个测试卡相对于摄像模组具有不同的深度，从而进行摄像模组的深度测试。这样设置的测试系统，一方面，可以便于调节测试的深度值的差值，适用范围高，且可以测试深度值差异较大的情况；另一方面，无需在测试卡上设置深度测试模块，可以减少对测试卡的占用空间，以便于测试卡可以设置其它的测试模块。
主权项：1.一种测试系统，所述测试系统用于测试摄像模组2，其特征在于，包括：支架；多个测试卡20，多个所述测试卡20间隔且并排设置；多个变距组件30，多个所述变距组件30与多个所述测试卡20一一对应地设置，所述测试卡20与所述支架通过所述变距组件30可移动地相连，所述变距组件30用于调节与其对应的所述测试卡20与所述摄像模组2之间的距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 立讯精密科技(南京)有限公司 测试系统
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