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申请/专利权人：美商新思科技有限公司
申请日：2023-12-08
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118191569A
主分类号：G01R31/316
分类号：G01R31/316
优先权：["20221212 US 18/064,734"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.14#公开
摘要：提供了用以增加模拟电路缺陷检测覆盖范围的自动测试图案生成。通过应用一系列不同策略来生成测试图案，以测试模拟电路中的规定的缺陷。每个策略有效地确定模拟电路针对试验测试图案的标称响应和缺陷响应。标称响应是模拟电路在没有规定的缺陷的情况下的响应，并且缺陷响应是模拟电路在具有规定的缺陷的情况下的响应。基于标称响应与缺陷响应之间的差异来选择测试图案。
主权项：1.一种方法，包括：接收模拟电路的描述和所述模拟电路中可能出现的缺陷的规定；以及由处理设备应用一系列至少两个策略用于确定测试图案，以检测规定的所述缺陷，每个策略包括：确定所述模拟电路针对试验测试图案的标称响应和缺陷响应；其中所述标称响应是所述模拟电路在没有规定的所述缺陷的情况下的响应，并且所述缺陷响应是所述模拟电路在具有规定的所述缺陷的情况下的响应；以及基于针对所述试验测试图案的所述标称响应与所述缺陷响应之间的差异，选择所述试验测试图案中的一个或多个试验测试图案作为所述测试图案。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美商新思科技有限公司 用以增加模拟电路缺陷检测覆盖范围的自动测试图案生成
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