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申请/专利权人：本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请日：2021-09-28
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN115902572B
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G06N10/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.14#授权;2023.06.16#著录事项变更;2023.04.21#实质审查的生效;2023.04.04#公开
摘要：本发明提供了一种量子芯片的测试系统和量子计算机，量子芯片上设置有N根连接若干个量子比特的读取信号传输线，其中，测试系统包括用于对相关量子比特进行表征的量子芯片表征装置、用于对相关量子比特进行测量的量子芯片测量装置和N对第一微波开关，第一微波开关包括一公共端和至少两个开关端，每一对第一微波开关的公共端分别连接一读取信号传输线的输入端和输出端；每一对第一微波开关的两个开关端分别连接量子芯片表征装置或量子芯片测量装置的信号输出端口和信号采集端口。本发明通过在测试系统中增设第一微波开关，实现了表征测试回路和测量测试回路的切换，避免了人工频繁拆卸接换线路，从而提高量子芯片的测试效率，降低测试成本。
主权项：1.一种量子芯片的测试系统，所述量子芯片上设置有N根连接若干个量子比特的读取信号传输线，其特征在于，所述测试系统包括：用于通过每根所述读取信号传输线对相关量子比特进行表征的量子芯片表征装置；用于通过每根所述读取信号传输线对相关量子比特进行测量的量子芯片测量装置；N对第一微波开关，其中，所述第一微波开关包括一公共端和至少两个开关端；每一对所述第一微波开关的公共端分别连接一所述读取信号传输线的输入端和输出端；每一对所述第一微波开关的一个开关端分别连接所述量子芯片测量装置的信号输出端口和信号采集端口；一对第二微波开关，一对所述第二微波开关的一端均连接一个所述第一微波开关的开关端；一对所述第二微波开关的另一端连接所述量子芯片表征装置；所述第一微波开关的公共端连通其连接所述量子芯片表征装置的一开关端，形成表征测试回路；所述第一微波开关的公共端连通其连接所述量子芯片测量装置的另一开关端，形成测量测试回路。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 量子芯片的测试系统及量子计算机
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