申请/专利权人：彩谱科技(浙江)有限公司

申请日：2022-04-28

公开（公告）日：2024-06-14

公开（公告）号：CN114791323B

主分类号：G01J3/46

分类号：G01J3/46;G01J3/02;G01N21/25

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.14#授权;2022.08.12#实质审查的生效;2022.07.26#公开

摘要：本发明公开了一种高光谱颜色测量系统及测量方法,系统包括待测样本反射光获取装置、高光谱探测装置和样本平移装置，高光谱探测装置包括成像组件、分光组件和电路组件；方法包括步骤S1：根据获取的待测样本光，得到待测样本的平面像，通过入射狭缝将平面像进行剪切，得到狭缝尺寸的一维空间图像信息，再进行分光成像，将一维空间图像信息中的光谱信息展开，将得到的由单色像组成的二维图谱信息进行汇聚并数字化；步骤S2：将待测样本进行平移，依次获取一维空间位置信息；步骤S3：通过图像信息拼接，将一维空间位置信息展宽为二维空间图像信息，获取平面图像信息；步骤S4：将平面图像信息中每一点的光谱响应值，计算为光谱反射率数据。

主权项：1.一种高光谱颜色测量系统，包括待测样本反射光获取装置和探测装置，其特征在于：所述探测装置采用高光谱探测装置，包括成像组件1、分光组件2和电路组件，并为高光谱探测装置配合设置样本平移装置，成像组件1根据获取的待测样本反射光，得到待测样本的平面像，分光组件2通过入射狭缝将平面像进行剪切，得到狭缝尺寸的一维空间图像信息，再进行分光成像，将一维空间图像信息中的光谱信息展开，将得到的由单色像组成的二维图谱信息，汇聚到电路组件上，电路组件将二维图谱信息数字化，样本平移装置将待测样本相对高光谱探测装置进行平移，将一维空间位置信息展宽为二维空间图像信息；所述电路组件采用面阵CCD4，面阵CCD4的感光面与分光组件2的成像面重合，同时，狭缝的单色像与面阵CCD4的每一行像素完全平行；分光组件2与面阵CCD4之间设置连接装置3，包括旋转环7、水平移动环6和前后移动管9，旋转环7一侧设置与面阵CCD4的C扣相配合的螺纹，另一侧设置的环形接口套设在水平移动环6内，通过旋转，调节面阵CCD4相对分光组件2的角度，使面阵CCD4的每行像素与分光组件2的狭缝平行，水平移动环6另一侧设有突出部13，与前后移动管9的凹槽12配合设置，通过水平移动，调节面阵CCD4在光谱维方向相对分光组件2的水平位置，使面阵CCD4接收的光谱信息与分光组件2的光谱范围相对应，前后移动管9套设在分光组件2上，通过前后移动，调节面阵CCD4与分光组件2的距离，使面阵CCD4的感光面处于分光组件2的成像面上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 彩谱科技(浙江)有限公司 一种高光谱颜色测量系统及测量方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD