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申请/专利权人：天目山实验室;北京航空航天大学
申请日：2024-03-14
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118209580A
主分类号：G01N25/16
分类号：G01N25/16;G01N1/28;G01N1/44
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：本发明为一种热膨胀系数高通量测试装置及方法。该装置包括单个CCD相机[1]、单个镜头[2]、单个滤波片[3]、两个平面反射镜[4]、单个三棱镜[5]、两个单色光源[7]和超高温加热装置[17]。所述热膨胀系数测量采用单相机三维非接触数字图像相关方法DIC，测试温度从室温至2500℃；首先在样品表面制备超高温散斑，经过CCD相机采集带散斑的样品后，利用3D‑DIC软件计算出三维应变场，然后经过深度学习神经网络对标热膨胀仪测试精度。一次可以实现2‑10个样品热膨胀系数高通量测试，该测试方法可以应用在航空航天材料、力学等领域，进行热膨胀系数高通量、高精度测量。
主权项：1.一种热膨胀系数高通量测试装置，其特征在于，该高通量测试装置包括单相机三维数字图像相关系统3D-DIC10、超高温加热装置17、相机支架11、同步触发器19和光学平台15；其中3D-DIC系统10包括一个CCD相机1、一个镜头2、一个紫外带通滤波片3、两个平面反射镜4、一个三棱镜5、两个单色光源7、一台计算机8和数据线9；超高温加热装置17包括超高温炉12和控制柜16；所述3D-DIC10用于透过高温炉窗口14采集放置在超高温炉12底部的样品18高温图像；所述超高温加热装置17用于多个样品加热环境；所述高温炉窗口13用于观察样品；所述高温炉窗口14用于测量样品温度；所述相机支架11用于支撑相机1和镜头2；所述光学平台用于支撑单相机3D-DIC系统10；所述紫外带通滤波片3用于屏蔽超高温热辐射；所述两个单色光源7用于向样品发出单色光；所述平面反射镜4用来反射从从样品反射的两个单色光源7的光，进入三棱镜5；所述三棱镜5用于反射来自于平面反射镜4的光，从而在相机1的靶面进行成像；并将采集到的图像实时传输到所述计算机8；所述同步触发器19用于保证相机1和控制柜16的同步数据；所述计算机8用于采集图像和计算应变；所述数据线9用于传输相机1采集的图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 天目山实验室;北京航空航天大学 一种热膨胀系数高通量测试方法及装置
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