龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：华侨大学
摘要：本发明提供了一种双面研磨磨盘面型测量及修整工艺优化系统及优化方法，涉及双面研磨加工技术领域。包括面型测量系统、磨盘修整模型系统和修整工艺优化系统，所述面型测量系统用于测量磨盘的平面度数据，并根据平面度信息判断当前磨盘的面型，计算修整量；所述磨盘修整模型系统包含修整轨迹模型和材料去除率模，分别用于计算修整轮在磨盘表面形成的修整轨迹和计算修整过程中修整轮对磨盘表面材料的去除率，结合磨盘所需修整量以确定修整时间；所述修整工艺优化系统用于将磨盘实时的面型和磨盘修整模型相结合，以根据当前的磨盘状态进行优化以获得最佳修整工艺参数及修整时间。通过本方案可以提高修整效率。
主权项：1.一种双面研磨磨盘面型测量及修整工艺优化系统，所述磨盘包括上磨盘和下磨盘，其特征在于，包括面型测量系统、磨盘修整模型系统和修整工艺优化系统，其中，所述面型测量系统用于测量磨盘的平面度数据，并根据平面度信息判断当前磨盘的面型，以及计算达到预设的平面度标准规范的磨盘所需要的修整量；所述磨盘修整模型系统包含修整轨迹模型和材料去除率模型，所述修整轨迹模型用于计算修整轮在磨盘表面形成的修整轨迹；所述材料去除率模型基于修整轨迹的长度与上磨盘施加的压力计算修整过程中修整轮对磨盘表面材料的去除率，结合磨盘所需修整量以确定修整时间；所述修整工艺优化系统用于将磨盘实时的面型和磨盘修整模型相结合，以根据当前的磨盘状态进行优化以获得最佳修整工艺参数及修整时间。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华侨大学 双面研磨磨盘面型测量及修整工艺优化系统及优化方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号