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申请/专利权人：环胜电子(深圳)有限公司
摘要：本揭示内容提供一种测试点密度检测方法，其包含读取对应多个测试点的多个第一轴坐标及多个第二轴坐标；将所述多个第一轴坐标的一者设定为第一起点轴坐标并根据第一起点轴坐标、框选长度及框选宽度框选第一检测区域；计算第一检测区域的测试点数量并确认测试点数量是否小于数量阈值而产生数量确认结果；将所述多个第二轴坐标的一者设定为第二起点轴坐标并根据第二起点轴坐标与框选距离框选第二检测区域；计算第二检测区域的测试点密度并确认测试点密度是否小于密度阈值而产生密度确认结果。借此，可快速计算电路布局数据的测试点密度。
主权项：1.一种测试点密度检测方法，其特征在于，包含以下步骤：一坐标取得步骤，包含驱动一处理器从一记忆体读取一电路布局数据，其中该电路布局数据包含对应多个测试点的多个第一轴坐标及多个第二轴坐标；以及一第一轴向检测步骤，包含：一第一区域框选步骤，包含驱动该处理器将所述多个第一轴坐标的一者设定为一第一起点轴坐标，并根据该第一起点轴坐标、一框选长度及一框选宽度框选一第一检测区域；及一数量确认步骤，包含驱动该处理器计算该第一检测区域的一测试点数量，并确认该测试点数量是否小于一数量阈值而产生一数量确认结果；其中，当该数量确认结果为是时，判定该第一检测区域为合格；其中，当该数量确认结果为否时，执行一第二轴向检测步骤，其包含：一第二区域框选步骤，包含驱动该处理器将所述多个第二轴坐标的一者设定为一第二起点轴坐标，并根据该第二起点轴坐标与一框选距离框选一第二检测区域；及一密度确认步骤，包含驱动该处理器计算该第二检测区域的一测试点密度，并确认该测试点密度是否小于一密度阈值而产生一密度确认结果；其中，当该密度确认结果为是时，判定该第二检测区域为合格；其中，当该密度确认结果为否时，判定该第二检测区域为不合格。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 环胜电子(深圳)有限公司 测试点密度检测方法
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