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申请/专利权人：上海无线电设备研究所
申请日：2021-12-16
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN114114220B
主分类号：G01S7/497
分类号：G01S7/497
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.18#授权;2022.03.18#实质审查的生效;2022.03.01#公开
摘要：本发明提供了一种基于射线追踪判定太赫兹波束质量的方法，包括如下步骤：S1、在太赫兹波束传输的自由空间内设置一平板，将其分裂成n条太赫兹射线；S2、设置两个间隔设置的第一通孔和第二通孔，n条太赫兹射线其中的一条穿过第一通孔成第一图像，找到第一质心位置，移动第二通孔，以使该条太赫兹射线也穿过第二通孔成第二图像，找到第二质心位置；第一质心位置和第二质心位置的投影间隔为该条太赫兹射线的偏折量，偏折量越大，质量越低；S3、综合n条太赫兹射线的偏折量判定太赫兹波束的质量。该方法运用射线追踪方法，追迹太赫兹波束的传播路径的偏折，可简单精确地判定太赫兹波束的质量，并且能够查找波束缺陷的来源，提升目标测量的精度。
主权项：1.一种基于射线追踪判定太赫兹波束质量的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、在太赫兹波束传输的自由空间内设置一平板，所述平板上阵列排布有n个通孔，所述太赫兹波束穿过所述平板，分裂成n条太赫兹射线；S2、在n条太赫兹射线传输的自由空间内设置有两个间隔设置的第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和所述第二通孔所在的第一平面和第二平面平行，n条太赫兹射线由所述第一平面射向所述第二平面，所述第一通孔的位置固定，所述第二通孔可沿着所述第二平面自由移动；n条太赫兹射线其中的一条穿过所述第一通孔成第一图像，找到所述第一图像的第一质心位置，移动所述第二通孔，以使该条太赫兹射线也穿过所述第二通孔成第二图像，找到所述第二图像的第二质心位置；所述第一质心位置和所述第二质心位置在所述第一平面上的投影间隔为该条太赫兹射线的偏折量，偏折量越大，则该条太赫兹射线的质量越低；S3、综合n条太赫兹射线的偏折量，判定所述太赫兹波束的质量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海无线电设备研究所 一种基于射线追踪判定太赫兹波束质量的方法及装置
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