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申请/专利权人：华南理工大学
申请日：2024-02-01
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225001A
主分类号：G01B11/25
分类号：G01B11/25
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种面向快速三维测量的变频条纹编解码方法、装置及介质，属于计算机视觉技术领域。其中方法包括：在条纹编码阶段，根据目标深度范围获取最优的编码像素偏移，确定条纹频率和对应相位，获取最优的条纹编码，并将相位存储在查找表中；在条纹解码阶段，将编码的条纹图发射到待测物体表面，条纹发生形变，获取形变后的条纹序列，使用几何约束相位展开方法获取绝对相位，通过条纹编码阶段建立的查找表进行像素匹配，恢复待测物体的三维形状。本发明提出的条纹编码方法，使用测量系统的几何约束进行相位展开，解决了传统几何约束方法测量深度范围难以量化计算，且深度不平衡导致测量失败的问题，具有精度高、速度快、范围大等优势。
主权项：1.一种面向快速三维测量的变频条纹编解码方法，其特征在于，包括以下步骤：在条纹编码阶段，根据目标深度范围获取最优的编码像素偏移，确定条纹频率和对应相位，获取最优的条纹编码，并将相位存储在查找表中；在条纹解码阶段，将编码的条纹图发射到待测物体表面，条纹发生形变，获取形变后的条纹序列，使用几何约束相位展开方法获取绝对相位，通过条纹编码阶段建立的查找表进行像素匹配，恢复待测物体的三维形状。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南理工大学 面向快速三维测量的变频条纹编解码方法、装置及介质
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