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申请/专利权人：武汉中科医疗科技工业技术研究院有限公司
申请日：2022-12-20
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118226501A
主分类号：G01T7/00
分类号：G01T7/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本申请公开了一种正电子发射成像探测器的校正方法、装置和系统，获取基于多个探测器探测的多个单事例，并根据多个所述单事例确定多个符合事例，其中，所述单事例基于点状放射源发出的正电子湮灭时产生的伽马光子触发；确定每个所述符合事例的响应线，得到多个所述符合事例的多条响应线；根据所述点状放射源和所述多条响应线确定响应线分布特征量；以所述响应线分布特征量收敛为优化目标，对所述正电子发射成像探测器进行校正。本发明以响应线的集中程度为优化目标，能够实现对探测器的系统级校正，校正条件和装置简单，降低了探测器校正的复杂度，具有便捷、准确、快速的特点，能够为提高扫描系统图像分辨率提供基础。
主权项：1.一种正电子发射成像探测器的校正方法，其特征在于，包括：获取基于多个探测器探测的多个单事例，并根据多个所述单事例确定多个符合事例，其中，所述单事例基于点状放射源发出的正电子湮灭时产生的伽马光子触发；确定每个所述符合事例的响应线，得到多个所述符合事例的多条响应线；根据所述点状放射源和所述多条响应线确定响应线分布特征量；以所述响应线分布特征量收敛为优化目标，对所述正电子发射成像探测器进行校正。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉中科医疗科技工业技术研究院有限公司 一种正电子发射成像探测器的校正方法、装置和系统
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