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申请/专利权人：北京微电子技术研究所;北京时代民芯科技有限公司
申请日：2024-04-17
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118249967A
主分类号：H04L1/20
分类号：H04L1/20;H04L43/0823
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明涉及一种高速串行总线的多组态单粒子误码率预计方法，属于高速串行总线电路的单粒子效应测试领域。该方法对高速串行总线中发生的单粒子码错进行识别、分类和统计，根据统计结果，计算单粒子翻转截面CS_SEU和单粒子功能中断截面CS_SEFI；根据单粒子翻转截面CS_SEU，计算单粒子翻转误码率ER_SEU；根据单粒子功能中断截面CS_SEFI，计算单粒子功能中断误码率ER_SEFI；利用单粒子翻转误码率ER_SEU和单粒子功能中断误码率ER_SEFI计算高速串行总线单粒子总误码率ER。本发明实现了高速串行总线单粒子误码率的准确计算，有效保障高速串行总线单粒子效应评估的准确性和全面性。
主权项：1.一种高速串行总线的多组态单粒子误码率预计方法，其特征在于，包括：基于状态真值校验方法对高速串行总线中发生的单粒子码错进行识别、分类和统计，所述单粒子码错包括单粒子翻转单位码错、多位码错、由于物理层锁相环失锁自恢复导致自动恢复的BRUST码错和单粒子功能中断码错；根据统计结果，计算单粒子翻转截面CS_SEU和单粒子功能中断截面CS_SEFI；根据单粒子翻转截面CS_SEU，计算单粒子翻转误码率ER_SEU；根据单粒子功能中断截面CS_SEFI，计算单粒子功能中断误码率ER_SEFI；利用单粒子翻转误码率ER_SEU和单粒子功能中断误码率ER_SEFI计算高速串行总线单粒子总误码率ER。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京微电子技术研究所;北京时代民芯科技有限公司 一种高速串行总线的多组态单粒子误码率预计方法
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